Szczegóły publikacji
Opis bibliograficzny
Time-over-threshold processing implementation for silicon detectors with large capacitances / K. KASIŃSKI, R. KŁECZEK, P. GRYBOŚ, R. SZCZYGIEŁ // W: 2012 IEEE Nuclear Science Symposium, Medical Imaging Conference (NSS/MIC) & Workshop on Room-Temperature Semiconductor X-Ray and Gamma-Ray Detectors [Dokument elektroniczny] : October 29 – November 3, 2012, Anaheim, California. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — Piscataway : IEEE, cop. 2012. — 1 dysk optyczny. — e-ISBN: 978-1-4673-2029-0. — S. 882–885. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 884–885, Abstr. — Toż W: 2012 IEEE Nuclear Science Symposium and medical Imaging Conference Record (NSS/MIC) / ed. B. Yu. — (IEEE Nuclear Science Symposium Conference Record ; ISSN 1082-3654). — ISBN 978-1-4673-2030-6, ISBN 978-1-4673-2028-3
Autorzy (4)
Dane bibliometryczne
| ID BaDAP | 71425 |
|---|---|
| Data dodania do BaDAP | 2013-02-14 |
| Rok publikacji | 2012 |
| Typ publikacji | materiały konferencyjne (aut.) |
| Otwarty dostęp |  |
