Szczegóły publikacji

Opis bibliograficzny

An automated system for testing readout electronics of silicon strip X-ray detectors / Piotr MAJ, Adrian GORAL, Paweł GRYBOŚ // W: 2012 IEEE Nuclear Science Symposium, Medical Imaging Conference (NSS/MIC) & Workshop on Room-Temperature Semiconductor X-Ray and Gamma-Ray Detectors [Dokument elektroniczny] : October 29 – November 3, 2012, Anaheim, California. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — Piscataway : IEEE, cop. 2012. — 1 dysk optyczny. — e-ISBN: 978-1-4673-2029-0. — S. 1060–1068. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD. — Bibliogr. s. 1068, Abstr. — Brak afiliacji AGH

Autorzy (3)

Dane bibliometryczne

ID BaDAP71424
Data dodania do BaDAP2013-02-14
Rok publikacji2012
Typ publikacjimateriały konferencyjne (aut.)
Otwarty dostęptak

Publikacje, które mogą Cię zainteresować

fragment książki
#71425Data dodania: 14.2.2013
Time-over-threshold processing implementation for silicon detectors with large capacitances / K. KASIŃSKI, R. KŁECZEK, P. GRYBOŚ, R. SZCZYGIEŁ // W: 2012 IEEE Nuclear Science Symposium, Medical Imaging Conference (NSS/MIC) & Workshop on Room-Temperature Semiconductor X-Ray and Gamma-Ray Detectors [Dokument elektroniczny] : October 29 – November 3, 2012, Anaheim, California. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — Piscataway : IEEE, cop. 2012. — 1 dysk optyczny. — e-ISBN: 978-1-4673-2029-0. — S. 882–885. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 884–885, Abstr. — Toż W: 2012 IEEE Nuclear Science Symposium and medical Imaging Conference Record (NSS/MIC) / ed. B. Yu. — (IEEE Nuclear Science Symposium Conference Record ; ISSN 1082-3654). — ISBN 978-1-4673-2030-6, ISBN 978-1-4673-2028-3
SzczegółyLink
fragment książki
#81326Data dodania: 14.5.2014
Time and energy measuring front-end electronics for long silicon strip detectors readout / R. KŁECZEK, R. SZCZYGIEŁ, P. GRYBOŚ, P. OTFINOWSKI, K. KASIŃSKI // W: 2013 IEEE NSS/MIC [Dokument elektroniczny] : Nuclear Science Symposium & Medical Imaging Conference : October 27 – November 2, Seoul, Korea / guest ed. Yong Choi ; Institute of Electrical and Electronics Engineers. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Piscataway : IEEE], cop. 2013. — 1 dysk optyczny. — e-ISBN: 978-1-4799-3423-2. — S. [1–4]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. [4], Abstr. — W bazie Web of Science wersja drukowana. — ISBN 978-1-4799-0534-8
SzczegółyLink