Szczegóły publikacji

Opis bibliograficzny

Przykład adaptacji oprogramowania LabView do pomiaru charakterystyk magnetycznych i magnetorezystancyjnych cienkich warstw magnetycznych — [The arrangement of LabView program for measurements of magnetic and magnetoresistivity characteristcs in thin films] / Mirosław ŻOŁĄDŹ, Maciej CZAPKIEWICZ, Jerzy WRONA, Tomasz STOBIECKI, Jan ŻUKROWSKI // W: ELTE'2000 : technologia elektronowa : VII konferencja naukowa : Polanica Zdrój, 18–22 września 2000 : materiały konferencyjne, T. 2. — Wrocław : Instytut Techniki Mikrosystemów Politechniki Wrocławskiej, 2000. — S. 1097–1100. — Bibliogr. s. 1100

Autorzy (5)

Dane bibliometryczne

ID BaDAP6452
Data dodania do BaDAP2001-10-06
Rok publikacji2000
Typ publikacjimateriały konferencyjne (aut.)
Otwarty dostęptak

Publikacje, które mogą Cię zainteresować

fragment książki
#11888Data dodania: 21.2.2003
Pomiar fotoprzewodnictwa w magnetycznych półprzewodnikach cienkowarstwowych — [The photoconductivity measurement technique of magnetic semiconductor thin films] / Zbigniew SOBKÓW, Beata Teresa CIĘCIWA // W: ELTE'2000 : technologia elektronowa : VII konferencja naukowa : Polanica Zdrój, 18–22 września 2000 : materiały konferencyjne, T. 2. — Wrocław : Instytut Techniki Mikrosystemów Politechniki Wrocławskiej, 2000. — S. 1093–1096. — Bibliogr. s. 1096
SzczegółyLink
fragment książki
#6900Data dodania: 14.11.2001
System sterowania i kontroli nanoszenia warstw w próżniowym urządzeniu typu śluzowego — [Microprocesor-controlled unit for coating deposition with load lock] / Waldemar Gzyl, Dariusz Franczyk, Mieczysław JACHIMOWSKI, Mariusz SOKOŁOWSKI, Halina CZTERNASTEK // W: ELTE'2000 : technologia elektronowa : VII konferencja naukowa : Polanica Zdrój, 18–22 września 2000 : materiały konferencyjne, T. 2. — Wrocław : Instytut Techniki Mikrosystemów Politechniki Wrocławskiej, 2000. — S. 1000–1003. — Bibliogr. s. 1003
SzczegółyLink