Szczegóły publikacji

Opis bibliograficzny

Pomiar fotoprzewodnictwa w magnetycznych półprzewodnikach cienkowarstwowych — [The photoconductivity measurement technique of magnetic semiconductor thin films] / Zbigniew SOBKÓW, Beata Teresa CIĘCIWA // W: ELTE'2000 : technologia elektronowa : VII konferencja naukowa : Polanica Zdrój, 18–22 września 2000 : materiały konferencyjne, T. 2. — Wrocław : Instytut Techniki Mikrosystemów Politechniki Wrocławskiej, 2000. — S. 1093–1096. — Bibliogr. s. 1096

Autorzy (2)

Dane bibliometryczne

ID BaDAP11888
Data dodania do BaDAP2003-02-21
Rok publikacji2000
Typ publikacjimateriały konferencyjne (aut.)
Otwarty dostęptak

Publikacje, które mogą Cię zainteresować

fragment książki
#6452Data dodania: 6.10.2001
Przykład adaptacji oprogramowania LabView do pomiaru charakterystyk magnetycznych i magnetorezystancyjnych cienkich warstw magnetycznych — [The arrangement of LabView program for measurements of magnetic and magnetoresistivity characteristcs in thin films] / Mirosław ŻOŁĄDŹ, Maciej CZAPKIEWICZ, Jerzy WRONA, Tomasz STOBIECKI, Jan ŻUKROWSKI // W: ELTE'2000 : technologia elektronowa : VII konferencja naukowa : Polanica Zdrój, 18–22 września 2000 : materiały konferencyjne, T. 2. — Wrocław : Instytut Techniki Mikrosystemów Politechniki Wrocławskiej, 2000. — S. 1097–1100. — Bibliogr. s. 1100
fragment książki
#6191Data dodania: 13.9.2001
Alternatywne materiały w technologii ogniw słonecznych — [Alternative materials in solar cells technology] / Tadeusz PISARKIEWICZ // W: ELTE'2000 : technologia elektronowa : VII konferencja naukowa : Polanica Zdrój, 18–22 września 2000 : materiały konferencyjne, T. 2. — Wrocław : Instytut Techniki Mikrosystemów Politechniki Wrocławskiej, 2000. — S. 612–620. — Bibliogr. s. 620