Szczegóły publikacji

Opis bibliograficzny

Sposób pomiaru rozkładu grubości ścianki ceramicznej zamkniętej formy odlewniczej i układ do pomiaru rozkładu grubości ścianki ceramicznej zamkniętej formy odlewniczej — [Method for measuring distribution of the closed foundry mould ceramic wall thicknesses and the system for measuring distribution of the closed foundry mould ceramic wall thicknesses] / Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie ; wynalazca: ŻABA Krzysztof, NOWAK Stanisław, KWIATKOWSKI Michał, NOWOSIELSKI Maciej, KITA Paweł. — Int.Cl.: G01B 11/00(2006.01). — Polska. — Opis zgłoszeniowy wynalazku ; PL411050A1 ; Opubl. 2016-08-01. — Zgłosz. nr P.411050 z dn. 2015-01-23 // Biuletyn Urzędu Patentowego. — 2016 — nr 16, s. 34


Autorzy (5)


Słowa kluczowe

EN: investment castingwax assemblyceramic mould3D scanningwax patternwall thicknessmeasurement
PL: odlewanie precyzyjneceramiczna forma odlewniczaskanowanie 3Dgrubość ściankiwoskowy model odlewniczypomiarwoskowy zestaw modelowy

Dane bibliometryczne

ID BaDAP99538
Data dodania do BaDAP2016-08-25
Tekst źródłowyURL
Rok publikacji2016
Typ publikacjizgłoszenie patentowe
Otwarty dostęptak
Czasopismo/seriaBiuletyn Urzędu Patentowego

Streszczenie

Zgłoszenie dotyczy sposobu pomiaru rozkładu grubości ścianki ceramicznej zamkniętej formy odlewniczej i układu do pomiaru rozkładu grubości ścianki ceramicznej zamkniętej formy odlewniczej, w kolejnych etapach jej wytwarzania, przeznaczonej do procesu precyzyjnego odlewania metodą traconego tworzywa. W sposobie tym wykorzystuje się metody optycznego, przestrzennego skanowania oraz urządzenie komputerowe do przetwarzania sygnałów mierzonych. Sposób charakteryzuje się tym, że wytworzony woskowy zestaw modelowy skanuje się za pomocą skanera optycznego (1). Następnie dane pomiarowe dostarcza się do modułu przetwarzania danych pomiarowych (5), gdzie są przetworzone na obraz trójwymiarowy. Dane przesyła się do modułu porównywania danych i wnioskowania (6), a na woskowy zestaw modelowy nakłada się n warstw ceramiki. Po każdym z n procesów nakładania ceramiki, zestaw jest skanowany za pomocą skanera optycznego (1), a dane pomiarowe dostarcza się do modułu przetwarzania danych pomiarowych (5), gdzie są przetworzone na obraz trójwymiarowy. Następnie dane te są przesyłane do modułu porównywania danych i wnioskowania (6), gdzie porównuje się obrazy zestawu modelowego i wytworzonej na nim ceramicznej formy odlewniczej poprzez ich nałożenie, z uwzględnieniem sposobu bazowania z wykorzystaniem obszarów wspólnych tj. misy ceramicznej z naniesionym znacznikiem. Rysy wyznaczają różnicę między obrazami, stanowiąc grubość ścianki wielowarstwowej ceramicznej formy odlewniczej, gdzie następnie uzyskany rozkład grubości ścianki porównuje się z wzorcowym rozkładem grubości.

Publikacje, które mogą Cię zainteresować

dokument patentowy
Sposób pomiaru deformacji części składowych woskowego zestawu modelowego i układ do pomiaru deformacji części składowych woskowego zestawu modelowego — [Method for measuring deformation of a wax pattern component parts and the system for measuring deformation of a wax pattern component parts] / Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie ; wynalazca: ŻABA Krzysztof, NOWAK Stanisław, KWIATKOWSKI Michał, NOWOSIELSKI Maciej, KITA Paweł. — Int.Cl.: G01B 11/00(2006.01). — Polska. — Opis zgłoszeniowy wynalazku ; PL411049A1 ; Opubl. 2016-08-01. — Zgłosz. nr P.411049 z dn. 2015-01-23 // Biuletyn Urzędu Patentowego. — 2016 — nr 16, s. 33-34
dokument patentowy
Stanowisko optoelektronicznego pomiaru grubości ścianki formy odlewniczej wykonanej metodą wytapianego modelu — [The optoelectronic measurement stand for the wall thickness of the casting mould made by melt model] / Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie ; wynalazca: SIOMA Andrzej. — Int.Cl.: G01B 11/00(2006.01). — Polska. — Opis zgłoszeniowy wynalazku ; PL397029A1 ; Opubl. 2013-05-27. — Zgłosz. nr P.397029 z dn. 2011-11-18 // Biuletyn Urzędu Patentowego. — 2013 — nr 11, s. 47