Szczegóły publikacji

Opis bibliograficzny

X-ray diffraction residual stress (RS) analysis as a non-destructive tool for production quality control / Stanisław J. SKRZYPEK // W: EAN 2012 : 50th annual conference on Experimental stress analysis : June 4–7, 2012, Tábor, Czech Republic : proceedings / eds. Růžička M., Doubrava K., Horák Z. — Praha : Czech Technical University. Faculty of Mechanical Engineering, [2012]. — ISBN: 978-80-01-05060-6. — S. 423–430. — Bibliogr. s. 429–430, Abstr. — Toż na dołączonym CD-ROMie. — S. [1–8]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. [7–8], Abstr.

Autor

AGHSkrzypek Stanisław Jan

Słowa kluczowe

retained austenite ball bearings non destructive characterization residual macroscopic stresses grazing incidence x-ray diffraction coatings

Dane bibliometryczne

ID BaDAP	96792
Data dodania do BaDAP	2016-03-16
Rok publikacji	2012
Typ publikacji	materiały konferencyjne (aut.)
Otwarty dostęp

Abstract

Examples where analysis of residual stresses (RS) have important contribution in materials and processes characterization are described in the paper. In these works the GID-sin(2)Psi method based on the grazing incidence angle X-ray diffraction (called grazing incidence diffraction - GID) geometry and classical Sin(2)Psi method are applied to macro-residual stresses measurement in surface layers after different kind of machining and surface preparation of machine parts made of various kind of materials like TiN, austenitic alloy. sinters and steels. Surface layers of different thickness can be investigated/measured by matching wavelength and incidence angle a of X-ray beam.

Publikacje, które mogą Cię zainteresować

artykuł

#35349Data dodania: 9.11.2007

Non-destructive quantitative phase and residual stress analysis versus depth using grazing X-ray diffraction / S. J. SKRZYPEK, M. GOŁY, W. RATUSZEK, M. Kowalski // Diffusion and Defect Data – Solid State Data. Part B, Solid State Phenomena ; ISSN 1012-0394. — 2007 — vol. 130, s. 47–52. — Bibliogr. s. 52, Abstr. — Applied Crystallography XX : proceedings of the XX conference on Applied crystallography : 11–14 September 2006, Wisła, Poland / eds. Danuta Stróż, Małgorzata Karolus. — [S. l. : s. n., 2007]. — ISBN 3-908451-40-x; ISBN-13: 978-3-908451-40-2

Szczegóły

fragment książki

#93397Data dodania: 21.10.2015

X-ray diffraction Residual Stress (RS) and Quantitative Phase Analysis (QPA) as a non-destructive tool for quality control / S. J. SKRZYPEK // W: 57 konwersatorium krystalograficzne : walne zebranie i warsztaty PTK : Wrocław, 24–26 VI 2015 : program, streszczenia komunikatów, lista uczestników i autorów prac = Polish Crystallographic Meeting. — Wrocław : Instytut Niskich Temperatur i Badań Strukturalnych PAN ; Komitet Krystalografii PAN, [2015]. — Na okł. dod. Warsztaty Rigaku Oxford Diffraction i Polskiego Towarzystwa Krystalograficznego. — ISBN: 978-83-939559-4-7. — S. 45. — Dostęp również online: http://intibs.pl/kk2015/pdf/57KK2015book.pdf [2015-10-21]

Szczegóły