Szczegóły publikacji
Opis bibliograficzny
X-ray diffraction Residual Stress (RS) and Quantitative Phase Analysis (QPA) as a non-destructive tool for quality control / S. J. SKRZYPEK // W: 57 konwersatorium krystalograficzne : walne zebranie i warsztaty PTK : Wrocław, 24–26 VI 2015 : program, streszczenia komunikatów, lista uczestników i autorów prac = Polish Crystallographic Meeting. — Wrocław : Instytut Niskich Temperatur i Badań Strukturalnych PAN ; Komitet Krystalografii PAN, [2015]. — Na okł. dod. Warsztaty Rigaku Oxford Diffraction i Polskiego Towarzystwa Krystalograficznego. — ISBN: 978-83-939559-4-7. — S. 45. — Dostęp również online: http://intibs.pl/kk2015/pdf/57KK2015book.pdf [2015-10-21]
Autor
Dane bibliometryczne
| ID BaDAP | 93397 |
|---|---|
| Data dodania do BaDAP | 2015-10-21 |
| Rok publikacji | 2015 |
| Typ publikacji | materiały konferencyjne (aut.) |
| Otwarty dostęp | |
| Konferencja | 57 Konwersatorium Krystalograficzne |