Szczegóły publikacji

Opis bibliograficzny

Sputter depth profiling with large $Ar_{n}^{+}$ cluster ion beam for characterization of interfaces in multilayer organic structures / Mateusz Marek MARZEC, Jakub Rysz, Andrzej BERNASIK, Wojciech ŁUŻNY, Andrzej Budkowski // W: SIMS Europe 2014 [Dokument elektroniczny] : 9th european workshop on Secondary Ion Mass Spectrometry : Münster, Germany, September 7–9, 2014 : final program and book of abstracts / Westfälische Wilhelms-Universität Münster. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Germany : s. n.], [2014]. — S. 151. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: http://www.sims-europe.eu/SIMS-Europe/SIMS_Europe_2014__Progr... [2014-09-24]

Autorzy (5)

Dane bibliometryczne

ID BaDAP83955
Data dodania do BaDAP2014-09-24
Rok publikacji2014
Typ publikacjimateriały konferencyjne (aut.)
Otwarty dostęptak

Publikacje, które mogą Cię zainteresować

fragment książki
#94678Data dodania: 22.1.2016
XPS/UPS depth profiling with gas cluster ion beam for characterization of interfaces in thin multilayer organic structures / Mateusz M. MARZEC, J. Rysz, J. HABERKO, A. BERNASIK, A. Budkowski // W: SIMS XX : 20th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : September 13–18, 2015, Seattle : technical program & abstracts. — [USA : s. n.], [2015]. — Opis częśc. wg okł. — S. 93–94. — Bibliogr. s. 94
SzczegółyLink
fragment książki
#94685Data dodania: 22.1.2016
XPS depth profiling of organic photodetectors with the gas cluster ion beam / Jakub HABERKO, M. M. MARZEC, A. BERNASIK, W. ŁUŻNY, P. Lienhard, A. Pereira, J. Faure-Vincent, D. Djurado, A. Revaux // W: SIMS XX : 20th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : September 13–18, 2015, Seattle : technical program & abstracts. — [USA : s. n.], [2015]. — Opis częśc. wg okł. — S. 94. — Bibliogr. s. 94
SzczegółyLink