Szczegóły publikacji

Opis bibliograficzny

XPS/UPS depth profiling with gas cluster ion beam for characterization of interfaces in thin multilayer organic structures / Mateusz M. MARZEC, J. Rysz, J. HABERKO, A. BERNASIK, A. Budkowski // W: SIMS XX : 20th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : September 13–18, 2015, Seattle : technical program & abstracts. — [USA : s. n.], [2015]. — Opis częśc. wg okł. — S. 93–94. — Bibliogr. s. 94

Autorzy (5)

Dane bibliometryczne

ID BaDAP94678
Data dodania do BaDAP2016-01-22
Rok publikacji2015
Typ publikacjimateriały konferencyjne (aut.)
Otwarty dostęptak
Konferencja20th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry

Publikacje, które mogą Cię zainteresować

fragment książki
#94685Data dodania: 22.1.2016
XPS depth profiling of organic photodetectors with the gas cluster ion beam / Jakub HABERKO, M. M. MARZEC, A. BERNASIK, W. ŁUŻNY, P. Lienhard, A. Pereira, J. Faure-Vincent, D. Djurado, A. Revaux // W: SIMS XX : 20th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : September 13–18, 2015, Seattle : technical program & abstracts. — [USA : s. n.], [2015]. — Opis częśc. wg okł. — S. 94. — Bibliogr. s. 94
SzczegółyLink
fragment książki
#94689Data dodania: 22.1.2016
Application of $Ar-GCIB$ depth profiling with XPS of selected cell lines / M. WYTRWAŁ, M. Woszczek, M. M. MARZEC, S. Prauzner-Bechcicki, M. Lekka, Andrzej BERNASIK // W: SIMS XX : 20th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : September 13–18, 2015, Seattle : technical program & abstracts. — [USA : s. n.], [2015]. — Opis częśc. wg okł. — S. 103–104. — Bibliogr. s. 104
SzczegółyLink