Szczegóły publikacji

Opis bibliograficzny

Characterization of silicon biosensor surfaces with Time of Flight Secondary Ion Mass Spectroscopy / J. Rysz, K. Awsiuk, K. Fornal, P. Petrou, A. Budkowski, A. BERNASIK, S. Kakabakos, M. M. MARZEC, I. Raptis // W: SIMS-19 : the 19th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : September 29–October 4, 2013, ICC Jeju, Jeju, Korea : program and abstracts. — [Korea : s. n.], 2013. — Dodatkowo na okł.: Balances between dynamic SIMS and static SIMS, Academia and Industries, Fundamentals and Applications. — S. 147. — Bibliogr. s. 147

Autorzy (9)

Dane bibliometryczne

ID BaDAP77715
Data dodania do BaDAP2013-11-20
Rok publikacji2013
Typ publikacjimateriały konferencyjne (aut.)
Otwarty dostęptak

Publikacje, które mogą Cię zainteresować

fragment książki
#77718Data dodania: 20.11.2013
Dipole-dipole interactions at buried polymer/metal interfaces examined with Kelvin Probe Force Microscopy and Secondary Ion Mass Spectrometry / M. M. MARZEC, A. BERNASIK, J. Rysz, W. ŁUŻNY, A. Budkowski // W: SIMS-19 : the 19th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : September 29–October 4, 2013, ICC Jeju, Jeju, Korea : program and abstracts. — [Korea : s. n.], 2013. — Dodatkowo na okł.: Balances between dynamic SIMS and static SIMS, Academia and Industries, Fundamentals and Applications. — S. 155. — Bibliogr. s. 155
SzczegółyLink
fragment książki
#94678Data dodania: 22.1.2016
XPS/UPS depth profiling with gas cluster ion beam for characterization of interfaces in thin multilayer organic structures / Mateusz M. MARZEC, J. Rysz, J. HABERKO, A. BERNASIK, A. Budkowski // W: SIMS XX : 20th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : September 13–18, 2015, Seattle : technical program & abstracts. — [USA : s. n.], [2015]. — Opis częśc. wg okł. — S. 93–94. — Bibliogr. s. 94
SzczegółyLink