Szczegóły publikacji

Opis bibliograficzny

Characterization of $Ti/TiN$ multilayer coating deposited using PLD technique — Charakterystyka wielowarstwowej powłoki $Ti/TiN$ nakładanej techniką PLD / Monika SOLECKA, Agnieszka RADZISZEWSKA, Kazimierz KOWALSKI, Tomasz MOSKALEWICZ // Inżynieria Materiałowa ; ISSN 0208-6247. — 2013 — R. 34 nr 4, s. 374–377. — Bibliogr. s. 377, Streszcz., Abstr.

Autorzy (4)

Słowa kluczowe

EN: TiNtribological multilayercoatingTipulsed laser deposition
PL: TiNpowłokatribologiczne multiwarstwyTiablacja laserowa

Dane bibliometryczne

ID BaDAP77170
Data dodania do BaDAP2013-10-29
Rok publikacji2013
Typ publikacjiartykuł w czasopiśmie
Otwarty dostęptak
Czasopismo/seriaIM Inżynieria Materiałowa = Materials Engineering

Streszczenie

Wielowarstwowe powłoki tribologiczne na bazie Ti/TiN wytworzone zostały metodą osadzania impulsem laserowym (PLD). Powłoki zbudowane były z 6-warstwowego układu naprzemiennie osadzanych warstw Ti (ok. 25 nm) i TiN (ok. 40 nm), przy całkowitej grubości powłoki nieprzekraczającej 200 nm. Do badania mikrostruktury i składu chemicznego użyto wiele technik badawczych. Analiza za pomocą skaningowej mikroskopii elektronowej (SEM) wykazała jednolitą powierzchnię powłoki z nielicznymi wadami w postaci kropli o podwyższonej zawartości tlenu. Transmisyjna mikroskopia elektronowa (TEM), jak również spektroskopia mas jonów wtórnych (SIMS) potwierdziły wielowarstwową strukturę powłok Ti/TiN. Skład chemiczny powłok Ti/TiN badano za pomocą rentgenowskiej spektroskopii fotoelektronów (XPS). Analiza XPS wykazała obecność azotku tytanu i tlenku na powierzchni powłoki.

Abstract

Tribological multilayer coatings on Ti/TiN basis were deposited by means of the Pulsed Laser Deposition (PLD) technique. The composites were built of six alternately deposited Ti (ca. 25 nm) and TiN (ca. 40 nm) layers with the total thickness of about 200 nm. Several analytical techniques were used to investigate the microstructure and composition of the coatings. Scanning electron microscopy (SEM) analyses showed a uniform coating surface with a few defects in the form of droplets enriched in oxygen. Transmission electron microscopy (TEM) as well as the secondary ion mass spectrometry (SIMS) examinations confirmed the multilayer structure of the Ti/TiN coatings. The chemical composition of the Ti/TiN coatings was investigated by using X-ray photoelectron spectroscopy (XPS). The XPS surface analysis showed the presence of titanium nitride and oxide.

Publikacje, które mogą Cię zainteresować

fragment książki
#74070Data dodania: 28.6.2013
Characterization of Ti/TiN multilayer coating deposited using PLD technique : [abstract] / SOLECKA Monika, RADZISZEWSKA Agnieszka, KOWALSKI Kazimierz, MOSKALEWICZ Tomasz // W: AMT'2013 : Advanced Materials and Technologies : XX physical metallurgy and materials science conference : 9–12 June 2013, Kudowa Zdrój / Częstochowa University of Technology. Institute of Materials Engineering. — [Częstochowa : University of Technology], [2013]. — Opis częśc. wg okł. — S. 56–57
artykuł
#77128Data dodania: 29.10.2013
Microstructure of doped $Bi_{2}O_{3}$ thin films deposited by PLD technique — Mikrostruktura cienkich warstw domieszkowanego $Bi_{2}O_{3}$ wytwarzanych metodą PLD / Sławomir KĄC, Tomasz MOSKALEWICZ // Inżynieria Materiałowa ; ISSN 0208-6247. — 2013 — R. 34 nr 4, s. 295–298. — Bibliogr. s. 298, Streszcz., Abstr.