Szczegóły publikacji

Opis bibliograficzny

Microstructure of doped $Bi_{2}O_{3}$ thin films deposited by PLD technique — Mikrostruktura cienkich warstw domieszkowanego $Bi_{2}O_{3}$ wytwarzanych metodą PLD / Sławomir KĄC, Tomasz MOSKALEWICZ // Inżynieria Materiałowa ; ISSN 0208-6247. — 2013 — R. 34 nr 4, s. 295–298. — Bibliogr. s. 298, Streszcz., Abstr.

Autorzy (2)

Słowa kluczowe

EN: bismuth oxidethin filmpulsed laser depositionPLDlaser ablation
PL: osadzanie impulsowe z fazy gazowejPLDcienkie warstwyablacja laserowatlenek bizmutu

Dane bibliometryczne

ID BaDAP77128
Data dodania do BaDAP2013-10-29
Rok publikacji2013
Typ publikacjiartykuł w czasopiśmie
Otwarty dostęptak
Czasopismo/seriaIM Inżynieria Materiałowa = Materials Engineering

Streszczenie

W publikacji przedstawiono wyniki badań cienkich warstw domieszkowanego molibdenem tlenku bizmutu wytwarzanych techniką ablacji laserowej (PLD) z wykorzystaniem lasera impulsowego Nd:YAG. Tlenek bizmutu to materiał szeroko stosowany w przemyśle elektronicznym i optyce. Celem przeprowadzonych badań jest stabilizacja wysokotemperaturowej fazy δ do niższej temperatury, co pozwoli lepiej wykorzystać interesujące własności tego materiału (dobre przewodnictwo jonowe, zmianę przewodności elektrycznej z temperaturą). W pracy badano wpływ koncentracji Mo i parametrów procesu PLD na mikrostrukturę i własności cienkich warstw tlenku bizmutu. Energia wiązki lasera, temperatura podłoża i ciśnienie tlenu w komorze reakcyjnej podczas procesu PLD istotnie wpływają na skład chemiczny i morfologię wytwarzanych warstw. W pracy są prezentowane wyniki badań cienkich warstw za pomocą SEM, TEM, EDS i XRD. Wyniki przeprowadzonych badań wykazują, że jest możliwe stechiometryczne przenoszenie domieszkowanego Mo tlenku bizmutu z odparowanej wiązką lasera tarczy na podłoże. W wytworzonych cienkich warstwach otrzymano wysokotemperaturową fazę δ-Bi2O3 w temperaturze otoczenia.

Abstract

The paper presents the investigation results of Mo doped Bi2O3 thin films obtained by PLD technique, using Nd:YAG laser. Bismuth oxide is the material having wide application in the electronic and optical industry. The objective of our investigation is stabilization of high temperature δ phase to lower temperature, which permits widely take advantage of interesting properties of this material (good ion conductivity, changing conductivity with temperature). The Mo concentration and process parameters influence on the coating microstructure and properties were studied. The laser energy, the substrate temperature and the oxygen pressure in the vacuum chamber during deposition by PLD process influence strongly the chemical composition and morphology of deposited films. The SEM, TEM, EDS and XRD investigation results of the films microstructure are presented in the paper. The results of investigations carried out indicate that it is possible to transfer stoichiometric composition of Mo doped Bi2O3 from target to substrate. In deposited thin films high temperature δ-Bi2O3 phase at room temperature was obtained.

Publikacje, które mogą Cię zainteresować

fragment książki
#74044Data dodania: 27.6.2013
Microstructure of doped ${Bi_{2}O_{3}}$ thin films deposited by PLD technique : [abstract] / KĄC Sławomir, MOSKALEWICZ Tomasz // W: AMT'2013 : Advanced Materials and Technologies : XX physical metallurgy and materials science conference : 9–12 June 2013, Kudowa Zdrój / Częstochowa University of Technology. Institute of Materials Engineering. — [Częstochowa : University of Technology], [2013]. — Opis częśc. wg okł. — S. 42
artykuł
#79458Data dodania: 4.2.2014
Characterization of lanthanum lutetium oxide thin films grown by pulsed laser deposition — Badania cienkich warstw $LaLuO_{3}$ wytwarzanych metodą ablacji laserowej / Agnieszka KOPIA, Christine Leroux, Kazimierz KOWALSKI, Madjid Arab, Frederic Guinneton, Jean Raymond Gavarri // Inżynieria Materiałowa ; ISSN 0208-6247. — 2013 — R. 34 nr 6, s. 720–723. — Bibliogr. s. 723, Streszcz., Abstr.