Szczegóły publikacji
Opis bibliograficzny
Automatyczny pomiar pojemności złączowej półprzewodnikowego złącza p-n — Automatic measuring system for junction capacitance of semiconductor p-n junction / Ireneusz BRZOZOWSKI, Szymon Wawszczak, Piotr BRATEK, Andrzej KOS // Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania (Warszawa) ; ISSN 0033-2089. — Tytuł poprz.: Przegląd Elektroniki. — 2012 — R. 53 nr 11, s. 97–101. — Bibliogr. s. 101, Streszcz., Summ.
Autorzy (4)
- AGHBrzozowski Ireneusz
- Wawszczak Szymon
- AGHBratek Piotr
- AGHKos Andrzej
Dane bibliometryczne
| ID BaDAP | 71085 |
|---|---|
| Data dodania do BaDAP | 2013-02-05 |
| Rok publikacji | 2012 |
| Typ publikacji | artykuł w czasopiśmie |
| Otwarty dostęp |  |
| Czasopismo/seria | Elektronika : Konstrukcje, Technologie, Zastosowania |
Abstract
The paper presents automatic measuring system allowing to measure of junction capacitance of semiconductor p-n junction. The system was build based on standard laboratory equipment supplemented with dedicated measuring generator, which design and realization was described. For the system configuration, controlling of measurements and data acquisition and saving special application in LabVIEW environment was made.
Streszczenie
W artykule przedstawiono automatyczne stanowisko pomiarowe pozwalające na pomiary pojemności złączowej półprzewodnikowych złącz p-n. System pomiarowy został zbudowany w oparciu o standardowe przyrządy laboratoryjne uzupełnione o dedykowany generator pomiarowy, którego projekt i realizacja została opisana. W celu konfiguracji systemu, sterowania pomiarami i archiwizacji danych napisano specjalną aplikację w środowisku LabVIEW.
