Szczegóły publikacji

Opis bibliograficzny

X-ray, AFM, UV-VIS-IR analysis of a-Si:H/$\mu$c-Si:H supperlattice structure / Andrzej KOŁODZIEJ, Witold BARANOWSKI, Edward KUSIOR, Jarosław KANAK // Optica Applicata ; ISSN 0078-5466. — 2011 — vol. 41 no. 2, s. 449–454. — Bibliogr. s. 453–454. — 10th Electron Technology ELTE 2010 and 34th International Microelectronics and Packaging IMAPS/CPMT Poland joint conference / guest eds. Andrzej Dziedzic, Jacek Radojewski, Jarosław Serafińczuk. — Wrocław : Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, 2011

Autorzy (4)

Słowa kluczowe

X-rayatomic force microscopync-Si:H multilayer structureUV-Vis-IR analysis

Dane bibliometryczne

ID BaDAP62787
Data dodania do BaDAP2011-12-07
Tekst źródłowyURL
Rok publikacji2011
Typ publikacjireferat w czasopiśmie
Otwarty dostęptak
Czasopismo/seriaOptica Applicata

Publikacje, które mogą Cię zainteresować

artykuł
#50803Data dodania: 4.3.2010
Investigation of the topography of magnetron-deposited Cu/Ni multilayers by X-ray reflectometry and atomic force microscopy / Barbara Kucharska, Edyta Kulej, Jarosław KANAK // Optica Applicata ; ISSN  0078-5466 . — 2009 — vol. 39 no. 4, s. 881–888. — Bibliogr. s. 887–888
SzczegółyLink
fragment książki
#54008Data dodania: 15.10.2010
X-ray, AFM, UV-VIS-IR analysis of multilayer a-Si:H/$\mu$c-Si:H system / Andrzej KOŁODZIEJ, Witold BARANOWSKI, Edward KUSIOR, Jarosław KANAK // W: ELTE 2010 ; IMAPS-CPMT : 10th Electron Technology conference and 34th international microelectronics and packaging : Wrocław, 22–25 September 2010 : book of abstracts / eds. Andrzej Dziedzic, Karol Malecha, Jacek Radojewski. — Wrocław : Wrocław University of Technology. Faculty of Microsystem Electronics and Photonics, [2010]. — Dod. na okł.: 1910–2010 100 years of Technical Universities in Wrocław. — ISBN: 978-83-917701-8-4. — S. 147. — Bibliogr. s. 147. — Pełny tekst W: ELTE 2010 ; IMAPS-CPMT [Dokument elektroniczny] : 10th electron technology conference ELTE2010 and 34th international microelectronics and packaging IMAPS-CPMT Poland conference : Wrocław, 22–25 September 2010 : proceedings of ELTE/IMPAS-CPMT 2010 conference. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe / eds. Andrzej Dziedzic [et al.]. — Wrocław : University of Technology, cop. 2010. — 1 dysk optyczny. — S. 1–4. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 4, Abstr. — ISBN 978-83-917701-9-1
SzczegółyLink