Szczegóły publikacji

Opis bibliograficzny

Microstructure and electrical properties of ${RuO_{2}-CeO_{2}}$ composite thin films / P. Nowakowski, S. Villain, K. Aguir, J. Guérin, A. KOPIA, J. KUSIŃSKI, F. Guinneton, J. -R. Gavarri // Thin Solid Films ; ISSN 0040-6090. — 2010 — vol. 518 iss. 10, s. 2801–2807. — Bibliogr. s. 2807, Abstr.

Autorzy (8)

Słowa kluczowe

electron microscopythin filmselectrical propertiesruthenium cerium dioxidescomposite thin filmselectrical percolation

Dane bibliometryczne

ID BaDAP51045
Data dodania do BaDAP2010-03-19
Tekst źródłowyURL
DOI10.1016/j.tsf.2009.08.034
Rok publikacji2010
Typ publikacjiartykuł w czasopiśmie
Otwarty dostęptak
Czasopismo/seriaThin Solid Films

Abstract

RuO2-CeO2 composite thin films are deposited on various Si substrates by a radiofrequency magnetron sputtering technique. Compacted polycrystalline pellets of the nanostructured CeO2-RuO2 composite system are used as standard samples for comparative electrical analyses. All films and composite samples are analyzed by X-ray diffraction and transmission electron microscopy. Electrical measurements of radiofrequency sputtering of thin films are performed as a function of the RuO2 fraction and of the temperature (between 25 and 400 °C). A nonlinear variation in the electrical conductivity of the RuO2-CeO2 composite thin films as a function of the RuO2 volume fraction (Φ) is observed and discussed. It is interpreted in terms of a power law (in (Φ - Φc)m ), where m and Φc are parameters characteristic of the distribution of the conducting phase in a composite medium. © 2009 Elsevier B.V. All rights reserved.

Publikacje, które mogą Cię zainteresować

artykuł
#38525Data dodania: 9.4.2008
${Ce_{1-x}Nd_{x}O_{2-\delta}/Si}$ thin films obtained by pulsed laser deposition: microstructure and conduction properties / M. CHMIELOWSKA, S. Villain, A. KOPIA, J. P. Dallas, J. KUSIŃSKI, J. R. Gavarri, Ch. Leroux // Thin Solid Films ; ISSN 0040-6090. — 2008 — vol. 516 iss. 12, s. 3747–3754. — Bibliogr. s. 3754, Abstr.
artykuł
#125015Data dodania: 28.10.2019
Investigations of structure and electrical properties of $TiO_{2}/CuO$ thin film heterostructures / Damian Wojcieszak, Agata Obstarczyk, Jarosław Domaradzki, Danuta Kaczmarek, Katarzyna ZAKRZEWSKA, Roman Pastuszek // Thin Solid Films ; ISSN 0040-6090. — 2019 — vol. 690 art. no. 137538, s. 1–5. — Bibliogr. s. 5, Abstr. — Publikacja dostępna online od: 2019-09-05