Szczegóły publikacji

Opis bibliograficzny

Sposób wywoływania wzorów precyzyjnych struktur grubowarstwowych i urządzenie do wywoływania wzorów precyzyjnych struktur grubowarstwowych — [Method for generation of precision thick–layer structure patterns and equipment for generating precision thick–layer structure patterns] / Instytut Technologii Elektronowej, Warszawa ; wynalazca: Barbara DZIURDZIA, Michał Cież, Zbigniew MAGOŃSKI, Stanisław NOWAK. — Int.Cl.: H05K 3/00(2006.01). — Polska. — Opis patentowy ; PL202552B1 ; Udziel. 2008-12-17 ; Opubl. 2009-07-31. — Zgłosz. nr P.362452 z dn. 2003-09-26

Autorzy (4)

  • Dziurdzia Barbara
  • Cież Michał
  • Magoński Zbigniew
  • Nowak Stanisław

Dane bibliometryczne

ID BaDAP46571
Data dodania do BaDAP2009-08-19
Tekst źródłowyURL
Rok publikacji2009
Typ publikacjipatent
Otwarty dostęptak

Publikacje, które mogą Cię zainteresować

dokument patentowy
Sposób wywoływania wzorów precyzyjnych struktur grubowarstwowych i urządzenie do wywoływania wzorów precyzyjnych struktur grubowarstwowych — [Method for generation of precision thick-layer structure patterns and equipment for generating precision thick-layer structure patterns] / Instytut Technologii Elektronowej, Warszawa ; wynalazca: DZIURDZIA Barbara, Cież Michał, MAGOŃSKI Zbigniew, NOWAK Stanisław. — Int.Cl.7: C25D 3/00. — Polska. — Opis zgłoszeniowy wynalazku ; PL362452A1 ; Opubl. 2005-04-04. — Zgłosz. nr P.362452 z dn. 2003-09-26 // Biuletyn Urzędu Patentowego. — 2005 — nr 7, s. 77
Szczegóły
dokument patentowy
Sposób i urządzenie do oceny parametrów geometrycznych struktur płaskich — [Method and device for evaluating geometric parameters of flat structures] / Kotarba Alicja Biuro Techniczno-Handlowe BTH Import Stal, Kraków ; wynalazca: KWAŚNIEWSKI Jerzy, Grzybowski Józef. — Int.Cl.: G01B 11/00(2006.01). — Polska. — Opis zgłoszeniowy wynalazku ; PL400468A1 ; Opubl. 2014-03-03. — Zgłosz. nr P.400468 z dn. 2012-08-22 // Biuletyn Urzędu Patentowego. — 2014 — nr 5, s. 44
Szczegóły