Szczegóły publikacji

Opis bibliograficzny

Spektrometria mas jonów wtórnych w badaniach morfologii cienkich warstw mieszanin polimerów — Secondary ion mass spectrometry: morphology studies of thin polymer blend films / Andrzej BERNASIK ; Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica. Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej. — Kraków : AGH. WFiIS, 2009. — 94 s. — Bibliogr. s. 81–92, Streszcz., Summ.

Autor

Dane bibliometryczne

ID BaDAP46445
Data dodania do BaDAP2009-08-17
Rok publikacji2009
Typ publikacjiksiążka
Otwarty dostęptak

Publikacje, które mogą Cię zainteresować

fragment książki
#81577Data dodania: 29.5.2014
Spektrometria mas w proteomice — [Mass spectrometry in proteomics] / Jerzy SILBERRING // W: Praktyczne aspekty spektrometrii mas : Trzebnica, 25–26.05.2014 : warsztaty spektometrii mas / Polskie Towarzystwo Spektometrii Mas, Wydział Chemii Uniwersytetu Wrocławskiego. — Wrocław : Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, 2014. — Opis częśc. wg okł. — ISBN: 978-83-60043-17-2. — S. 15. — Afiliacja: Akademia Górniczo-Hutnicza, dod. afiliacja: Centrum Materiałów Polimerowych i Węglowych PAN Gliwice
SzczegółyLink
artykuł
#10747Data dodania: 8.11.2002
Nowe możliwości metod dyfrakcyjnych w badaniach cienkich warstw — New approach to application of X-ray diffraction methods to thin surface layers / Stanisław Jan SKRZYPEK // Zeszyty Naukowe / Politechnika Świętokrzyska ; ISSN 1897-2683. Mechanika ; ISSN 0239-4979. — 2001 — z. 75, s. 91–99. — Bibliogr. s. 99, Streszcz., Summ. — II [Druga] szkoła letnia Inżynierii powierzchni : młodzi inżynierowie w integracji z Unią Europejską : Kielce–Ameliówka, 11–13 września 2001 r.
SzczegółyLink