Szczegóły publikacji

Opis bibliograficzny

Nowe możliwości metod dyfrakcyjnych w badaniach cienkich warstw — New approach to application of X-ray diffraction methods to thin surface layers / Stanisław Jan SKRZYPEK // Zeszyty Naukowe / Politechnika Świętokrzyska ; ISSN 1897-2683. Mechanika ; ISSN 0239-4979. — 2001 — z. 75, s. 91–99. — Bibliogr. s. 99, Streszcz., Summ. — II [Druga] szkoła letnia Inżynierii powierzchni : młodzi inżynierowie w integracji z Unią Europejską : Kielce–Ameliówka, 11–13 września 2001 r.

Autor

Dane bibliometryczne

ID BaDAP10747
Data dodania do BaDAP2002-11-08
Rok publikacji2001
Typ publikacjireferat w czasopiśmie
Otwarty dostęptak
Czasopismo/seriaZeszyty Naukowe / Politechnika Świętokrzyska, Mechanika

Publikacje, które mogą Cię zainteresować

artykuł
#10750Data dodania: 8.11.2002
Mikroskopia elektronowa w badaniach materiałów inżynierskich — Electron microscopy in study of engineering materials / Marek BLICHARSKI, Stanisław DYMEK // Zeszyty Naukowe / Politechnika Świętokrzyska ; ISSN 1897-2683. Mechanika ; ISSN 0239-4979. — 2000 — [z.] 72, s. 21–31. — Streszcz., Summ. — Problemy metaloznawstwa w technice XXI wieku : konferencja / kom. nauk. Jan Adamczyk [et al.]. — Kielce : Wydawnictwo Politechniki Świętokrzyskiej, 2000
SzczegółyLink
artykuł
#39940Data dodania: 4.8.2008
Ocena fotometrycznej metody odbiciowej w badaniach struktury geometrycznej powierzchni obrobionej — [Evaluation of the reflection method in testing of geometric structure of machined surface] / Andrzej TYKA // Zeszyty Naukowe / Politechnika Świętokrzyska ; ISSN 1897-2683. Mechanika ; ISSN 0239-4979. — 1997 — nr 63, s. 111–117. — Bibliogr. s. 117, Streszcz. — Metrologia w technikach wytwarzania maszyn Kielce'97 : VII konferencja naukowo-techniczna. T. 2 / [Politechnika Świętokrzyska]. —Kielce : Wydawnictwo PŚ, [1997]. — Konferencja zorganizowana w ramach obchodów 100-lecia Fabryki Łożysk Tocznych „ISKRA” S. A.
SzczegółyLink