Szczegóły publikacji

Opis bibliograficzny

Quantitative TEM metallography and Fourier transform images analysis for determination of $\gamma$' precipitate parameters in single crystal nickel-base superalloy / M. BIEL, F. Diologent, A. Hessel-Wyser, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ, P. A. Buffat // W: EMC 2004 : 13th European Microscopy Congress : Antwerp, Belgium, August 22–27, 2004 : proceedings. Vol. 2, Materials Sciences / ed. Gustaaf Van Tendeloo. — Liège : Belgian Society for Microscopy, [2004]. — S. 693–694. — Bibliogr. s. 694. — Toż na CD-ROMie. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM

Autorzy (5)

Dane bibliometryczne

ID BaDAP21337
Data dodania do BaDAP2005-04-01
Rok publikacji2004
Typ publikacjimateriały konferencyjne (aut.)
Otwarty dostęptak

Publikacje, które mogą Cię zainteresować

fragment książki
#21336Data dodania: 1.4.2005
TEM microstructural investigation of creep deformed single crystal Ni-base superalloy CM186LC / B. DUBIEL, D. Bale, M. Blackler, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: EMC 2004 : 13th European Microscopy Congress : Antwerp, Belgium, August 22–27, 2004 : proceedings. Vol. 2, Materials Sciences / ed. Gustaaf Van Tendeloo. — Liège : Belgian Society for Microscopy, [2004]. — S. 689–690. — Bibliogr. s. 689–690. — Toż na CD-ROMie. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM
SzczegółyLink
fragment książki
#22294Data dodania: 19.5.2005
Analytical TEM characterisation of nitrided multilayered titanium-base biomaterials / A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ, P. A. Buffat, T. MOSKALEWICZ, M. ŁUCKI, M. BIEL, W. RAKOWSKI // W: EMC 2004 [Dokument elektroniczny] : 13th European Microscopy Congress : August 22–27, 2004, Antwerp, Belgium : proceedings. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Liège : Belgian Society for Microscopy], [2004]. — 1 dysk optyczny. — Opis częśc. wg obwol. — S. 1–2. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 2. — Tyt. przejęto z ekranu tytułowego
SzczegółyLink