Szczegóły publikacji
Opis bibliograficzny
TEM microstructural investigation of creep deformed single crystal Ni-base superalloy CM186LC / B. DUBIEL, D. Bale, M. Blackler, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: EMC 2004 : 13th European Microscopy Congress : Antwerp, Belgium, August 22–27, 2004 : proceedings. Vol. 2, Materials Sciences / ed. Gustaaf Van Tendeloo. — Liège : Belgian Society for Microscopy, [2004]. — S. 689–690. — Bibliogr. s. 689–690. — Toż na CD-ROMie. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM
Autorzy (4)
- AGHDubiel Beata
- Bale D.
- Blackler M.
- AGHCzyrska-Filemonowicz Aleksandra
Dane bibliometryczne
| ID BaDAP | 21336 |
|---|---|
| Data dodania do BaDAP | 2005-04-01 |
| Rok publikacji | 2004 |
| Typ publikacji | materiały konferencyjne (aut.) |
| Otwarty dostęp |