Szczegóły publikacji
Opis bibliograficzny
Analytical TEM and HRTEM for phase identification in $Ti-Ni-P$ multilayers on $Ti-6Al-4V$ alloy / P. A. Buffat, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: EMC 2004 : 13th European Microscopy Congress : Antwerp, Belgium, August 22–27, 2004 : proceedings. Vol. 2, Materials Sciences / ed. Gustaaf Van Tendeloo. — Liège : Belgian Society for Microscopy, [2004]. — S. 589–590. — Bibliogr. s. 590. — Toż W: EMC 2004 [Dokument elektroniczny] : 13th European Microscopy Congress : August 22–27, 2004, Antwerp, Belgium : proceedings. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Liège : Belgian Society for Microscopy, 2004]. — 1 dysk optyczny. — Opis częśc. wg obwol. — S. 1–2. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Tyt. przejęto z ekranu tytułowego. — Bibliogr. s. 2
Autorzy (2)
- Buffat Philippe A.
- AGHCzyrska-Filemonowicz Aleksandra
Dane bibliometryczne
| ID BaDAP | 21334 |
|---|---|
| Data dodania do BaDAP | 2005-04-01 |
| Rok publikacji | 2004 |
| Typ publikacji | materiały konferencyjne (aut.) |
| Otwarty dostęp |  |
