Szczegóły publikacji
Opis bibliograficzny
Sposób kalibracji zestawu profilometrów laserowych — [Method for calibrating a set of laser profilometers] / Centrum Badań i Rozwoju Technologii dla Przemysłu Spółka Akcyjna, Warszawa ; wynalazca: Paweł ROTTER, Maciej KLEMIATO, Maciej ROSÓŁ, Dawid KNAPIK, Grzegorz Putynkowski, Rafał Kordaczek, Krzysztof Woźny, Wojciech Andrysiewicz. — Int.Cl.: G01B 11/24(2006.01). — Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej. — Opis zgłoszeniowy wynalazku ; PL443116A1 ; Opubl. 2024-06-17. — Zgłosz. nr P.443116 z dn. 2022-12-12
Autorzy (8)
- Rotter Paweł
- Klemiato Maciej
- Rosół Maciej
- Knapik Dawid
- Putynkowski Grzegorz
- Kordaczek Rafał
- Woźny Krzysztof
- Andrysiewicz Wojciech
Słowa kluczowe
Dane bibliometryczne
| ID BaDAP | 153836 |
|---|---|
| Data dodania do BaDAP | 2024-06-24 |
| Tekst źródłowy | URL |
| Rok publikacji | 2024 |
| Typ publikacji | zgłoszenie patentowe |
| Otwarty dostęp |
Streszczenie
Sposób kalibracji zestawu profilometrów laserowych polega na tym, że obejmuje etapy, w których: zapewnia się co najmniej dwa profilometry (11); zapewnia się wzorzec kalibracyjny (20) mający co najmniej sześć punktów referencyjnych; za pomocą profilometrów (11) skanuje się wzorzec kalibracyjny (20) w taki sposób, aby co najmniej sześć tych samych punktów referencyjnych było widocznych na skanach wykonanych przez co najmniej dwa profilometry (11); dla każdego profilometru (11) na odpowiadającym mu skanie wykrywa się położenie punktów referencyjnych w trzech osiach i wyznacza się ich pozycje względem określonego profilometru (11) w lokalnym układzie współrzędnych danego profilometru; sortuje się zeskanowane punkty referencyjne nadając każdemu punktowi etykietę w taki sposób, żeby każdy skan zawierał te same etykiety dla tego samego punktu referencyjnego; oraz oblicza się macierz transformacji dla współrzędnych punktów referencyjnych każdego profilometru w celu przekształcenia tych współrzędnych z lokalnego układu współrzędnych każdego profilometru do zewnętrznego układu współrzędnych.