Szczegóły publikacji

Opis bibliograficzny

Sposób kalibracji zestawu profilometrów laserowych — [Method for calibrating a set of laser profilometers] / Centrum Badań i Rozwoju Technologii dla Przemysłu Spółka Akcyjna, Warszawa ; wynalazca: Paweł ROTTER, Maciej KLEMIATO, Maciej ROSÓŁ, Dawid KNAPIK, Grzegorz Putynkowski, Rafał Kordaczek, Krzysztof Woźny, Wojciech Andrysiewicz. — Int.Cl.: G01B 11/24(2006.01). — Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej. — Opis zgłoszeniowy wynalazku ; PL443116A1 ; Opubl. 2024-06-17. — Zgłosz. nr P.443116 z dn. 2022-12-12

Autorzy (8)

  • Rotter Paweł
  • Klemiato Maciej
  • Rosół Maciej
  • Knapik Dawid
  • Putynkowski Grzegorz
  • Kordaczek Rafał
  • Woźny Krzysztof
  • Andrysiewicz Wojciech

Słowa kluczowe

EN: point cloud matchingoptical quality controlcoordinate transformationlaser profilometers
PL: transformacja współrzędnychprofilometry laseroweoptyczna kontrola jakościdopasowanie chmury punktów

Dane bibliometryczne

ID BaDAP153836
Data dodania do BaDAP2024-06-24
Tekst źródłowyURL
Rok publikacji2024
Typ publikacjizgłoszenie patentowe
Otwarty dostęptak

Streszczenie

Sposób kalibracji zestawu profilometrów laserowych polega na tym, że obejmuje etapy, w których: zapewnia się co najmniej dwa profilometry (11); zapewnia się wzorzec kalibracyjny (20) mający co najmniej sześć punktów referencyjnych; za pomocą profilometrów (11) skanuje się wzorzec kalibracyjny (20) w taki sposób, aby co najmniej sześć tych samych punktów referencyjnych było widocznych na skanach wykonanych przez co najmniej dwa profilometry (11); dla każdego profilometru (11) na odpowiadającym mu skanie wykrywa się położenie punktów referencyjnych w trzech osiach i wyznacza się ich pozycje względem określonego profilometru (11) w lokalnym układzie współrzędnych danego profilometru; sortuje się zeskanowane punkty referencyjne nadając każdemu punktowi etykietę w taki sposób, żeby każdy skan zawierał te same etykiety dla tego samego punktu referencyjnego; oraz oblicza się macierz transformacji dla współrzędnych punktów referencyjnych każdego profilometru w celu przekształcenia tych współrzędnych z lokalnego układu współrzędnych każdego profilometru do zewnętrznego układu współrzędnych.

Publikacje, które mogą Cię zainteresować

dokument patentowy
#154155Data dodania: 30.7.2024
A method for calibrating a set of laser profilometers / Centrum Badań i Rozwoju Technologii dla Przemysłu S.A., Warszawa ; wynalazca: ROTTER Paweł, KLEMIATO Maciej, ROSÓŁ Maciej, KNAPIK Dawid, Putynkowski Grzegorz, Kordaczek Rafał, Woźny Krzysztof, Andrysiewicz Wojciech. — Int.Cl.: G01B 11/245(2006.01). — European Patent Office. — Opis zgłoszeniowy wynalazku ; EP4386314A1 ; Opubl. 2024-06-19. — Zgłosz. nr EP23215800A z dn. 2023-12-12