Szczegóły publikacji
Opis bibliograficzny
The influence of annealing on electronic properties of ALD grown Ge:ZnO thin films / R. Knura, K. Skibińska, S. Sahayaraj, Jakub Gwizdak, Marek WOJNICKI, G. Putynkowski, R. P. Socha // W: ECOSS36 [Dokument elektroniczny] : 36th European Conference on Surface Science : 28. 08. 2023-01. 09. 2023, Łodz, Poland : abstract book (version 25/08) / Faculty of Physics and Applied Informatics, University of Lodz. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Lodz : Faculty of Physics and Applied Informatics, University of Lodz], [2023]. — S. 475. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: https://ecoss36.eu/pdf/ECOSS36_ConferenceAbstractBook.pdf [2023-09-06]. — Bibliogr. s. 475. — M. Wojnicki - dod. afiliacja: Centrum Badań i Rozwoju Technologii dla Przemysłu S. A., Poland
Autorzy (7)
- Knura Rafał
- Skibińska Katarzyna
- Sahayaraj Sylvester
- AGHGwizdak Jakub
- AGHWojnicki Marek
- Putynkowski Grzegorz
- Socha R. P.
Dane bibliometryczne
ID BaDAP | 148401 |
---|---|
Data dodania do BaDAP | 2023-09-07 |
Rok publikacji | 2023 |
Typ publikacji | materiały konferencyjne (aut.) |
Otwarty dostęp |