Szczegóły publikacji
Opis bibliograficzny
Advanced diffraction mapping of nitride semiconductor thin films and nanostructures : [abstract] / J. Bruckbauer, G. Ferenczi, R. McDermott, K. Hiller, B. Hourahine, A. WINKELMANN, C. Trager-Cowan // W: EMAS 2023 [Dokument elektroniczny] : 17th European workshop on Modern developments and applications in microbeam analysis : 7–11 May 2023, Krakow, Poland : book of tutorials and abstracts. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — Zürich : European Microbeam Analysis Society eV (EMAS), cop. 2023. — Dysk Flash. — e-ISBN: 978-90-8227-6961. — S. 306–308. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 308. — A. Winkelmann - dod. afiliacja: University of Strathclyde, Glasgow, Great Britain
Autorzy (7)
- Bruckbauer Jochen
- Ferenczi G.
- McDermott R.
- Hiller K.
- Hourahine Ben
- AGHWinkelmann Aimo
- Trager-Cowan Carol
Dane bibliometryczne
| ID BaDAP | 146933 |
|---|---|
| Data dodania do BaDAP | 2023-05-30 |
| Rok publikacji | 2023 |
| Typ publikacji | materiały konferencyjne (aut.) |
| Otwarty dostęp |  |