Szczegóły publikacji
Opis bibliograficzny
Determination of the dielectric constant of niobium oxide by using combined EIS and ellipsometric methods / Krzysztof FITZNER, Michał STĘPIEŃ // Materials [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1996-1944. — 2023 — vol. 16 iss. 2 art. no. 798, s. 1–14. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 13–14, Abstr. — Publikacja dostępna online od: 2023-01-13
Autorzy (2)
Słowa kluczowe
Dane bibliometryczne
| ID BaDAP | 144923 |
|---|---|
| Data dodania do BaDAP | 2023-01-27 |
| Tekst źródłowy | URL |
| DOI | 10.3390/ma16020798 |
| Rok publikacji | 2023 |
| Typ publikacji | artykuł w czasopiśmie |
| Otwarty dostęp |  |
| Creative Commons | |
| Czasopismo/seria | Materials |
Abstract
Combining ellipsometric and EIS methods, the dielectric constant ε for the oxide Nb2O5 at room temperature was determined. At first, the linear dependence between anodization voltage and oxide thickness was established in the form d = 2.14 (± 0.05) · U + 12.2 (± 1.7) nm in the range of anodizing potentials 0–50 V. Next, assuming the equivalent circuit corresponds to one, the capacitance C of the dense oxide layer was measured. All results taken together gave the value of dielectric constant ε = 93 ± 5.