Szczegóły publikacji

Opis bibliograficzny

Electron microscopy, spectroscopy and tomography - complementary techniques for characterisation of Ni-base superalloys down to the nanoscale / S. LECH, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ, G. CEMPURA, A. KRUK // W: 13th Polish-Japanese joint seminar on Micro and nano analysis : [25–28 September 2022, Ustroń] : abstract book. — [Katowice : University of Silesia], [2022]. — S. 83–84. — Bibliogr. s. 84

Autorzy (4)

Słowa kluczowe

superalloysanalytical electron microscopytomography

Dane bibliometryczne

ID BaDAP142833
Data dodania do BaDAP2022-10-12
Rok publikacji2022
Typ publikacjimateriały konferencyjne (aut.)
Otwarty dostęptak
WydawcaUniwersytet Śląski w Katowicach

Publikacje, które mogą Cię zainteresować

fragment książki
Analytical electron microscopy studies of precipitates in Inconel 625 additively manufactured by L-PBF technology and subjected to high-temperature annealing / B. DUBIEL, M. Zubko, P. Indyka, M. GAJEWSKA, K. GOLA, S. STAROŃ, H. PASIOWIEC // W: 13th Polish-Japanese joint seminar on Micro and nano analysis : [25–28 September 2022, Ustroń] : abstract book. — [Katowice : University of Silesia], [2022]. — S. 81–82. — Bibliogr. s. 82
Szczegóły
fragment książki
Characterisation and metrology of $\gamma'$ and $\gamma”$ nanoparticles in Inconel 718 studied by advanced electron microscopy, spectroscopy and tomography techniques / A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ, P. A. Buffat, A. KRUK, K. KULAWIK // W: Abstract book of 11th Polish-Japanese joint seminar on Micro and nano analysis : 11–14 September 2016, Gniew, Poland / PAN, PTMi, Kyushu University. — [Poland : s. n.], [2016]. — S. 24. — Bibliogr. s. 24
Szczegóły