Szczegóły publikacji

Opis bibliograficzny

Characterisation and metrology of $\gamma'$ and $\gamma”$ nanoparticles in Inconel 718 studied by advanced electron microscopy, spectroscopy and tomography techniques / A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ, P. A. Buffat, A. KRUK, K. KULAWIK // W: Abstract book of 11th Polish-Japanese joint seminar on Micro and nano analysis : 11–14 September 2016, Gniew, Poland / PAN, PTMi, Kyushu University. — [Poland : s. n.], [2016]. — S. 24. — Bibliogr. s. 24

Autorzy (4)

Słowa kluczowe

superalloysFIB SEM tomographyInconel 718ChemiSTEM

Dane bibliometryczne

ID BaDAP100749
Data dodania do BaDAP2016-09-29
Rok publikacji2016
Typ publikacjimateriały konferencyjne (aut.)
Otwarty dostęptak

Publikacje, które mogą Cię zainteresować

fragment książki
#100752Data dodania: 29.9.2016
Visualization of the interface between cells and ceramic coating surface by electron microscopy and tomography techniques / Joanna KARBOWNICZEK, Adam GRUSZCZYŃSKI, Urszula STACHEWICZ, Adam KRUK, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: Abstract book of 11th Polish-Japanese joint seminar on Micro and nano analysis : 11–14 September 2016, Gniew, Poland / PAN, PTMi, Kyushu University. — [Poland : s. n.], [2016]. — S. 49
fragment książki
#142833Data dodania: 12.10.2022
Electron microscopy, spectroscopy and tomography - complementary techniques for characterisation of Ni-base superalloys down to the nanoscale / S. LECH, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ, G. CEMPURA, A. KRUK // W: 13th Polish-Japanese joint seminar on Micro and nano analysis : [25–28 September 2022, Ustroń] : abstract book. — [Katowice : University of Silesia], [2022]. — S. 83–84. — Bibliogr. s. 84