Szczegóły publikacji

Opis bibliograficzny

Transfer learning methods as a new approach in computer vision tasks with small datasets / Andrzej BRODZICKI, Michał PIEKARSKI, Dariusz KUCHARSKI, Joanna JAWOREK-KORJAKOWSKA, Marek GORGOŃ // Foundations of Computing and Decision Sciences ; ISSN 0867-6356. — 2020 — vol. 45 no. 3, s. 179-193. — Bibliogr. s. 191-193, Abstr. — Publikacja dostępna online od: 2020-09-18. — M. Piekarski - dod. afiliacja: SOLARIS National Synchrotron Radiation Centre, Jagiellonian University, Krakow, Poland


Autorzy (5)


Słowa kluczowe

image analysisanomaly detectiontransfer learningdeep neural networkssignal processing

Dane bibliometryczne

ID BaDAP130238
Data dodania do BaDAP2020-09-28
Tekst źródłowyURL
DOI10.2478/fcds-2020-0010
Rok publikacji2020
Typ publikacjiartykuł w czasopiśmie
Otwarty dostęptak
Czasopismo/seriaFoundations of Computing and Decision Sciences

Abstract

Deep learning methods, used in machine vision challenges, often face the problem of the amount and quality of data. To address this issue, we investigate the transfer learning method. In this study, we briefly describe the idea and introduce two main strategies of transfer learning. We also present the widely-used neural network models, that in recent years performed best in ImageNet classification challenges. Furthermore, we shortly describe three different experiments from computer vision field, that confirm the developed algorithms ability to classify images with overall accuracy 87.2-95%. Achieved numbers are state-of-the-art results in melanoma thickness prediction, anomaly detection and Clostridium di cile cytotoxicity classification problems.

Publikacje, które mogą Cię zainteresować

fragment książki
Break the curse of small datasets in computer vision tasks with transfer learning methods / Joanna JAWOREK-KORJAKOWSKA, Andrzej BRODZICKI, Dariusz KUCHARSKI, Michał PIEKARSKI, Marek GORGOŃ // W: PP-RAI'2019 [Dokument elektroniczny] : Polskie Porozumienie na rzecz Rozwoju Sztucznej Inteligencji : 16–18.10.2019, Wrocław : conference proceedings. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Wrocław : Faculty of Electronics. Wroclaw University of Science and Technology], cop. 2019. — e-ISBN: 978-83-943803-2-8. — S. [146–149]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. [149], Abstr. — M. Piekarski – dod. afiliacja: Jagiellonian University
artykuł
Automatic analysis and anomaly detection system of transverse electron beam profile based on advanced and interpretable deep learning architectures / Michał PIEKARSKI, Joanna JAWOREK-KORJAKOWSKA, Adriana Wawrzyniak // Journal of Artificial Intelligence and Soft Computing Research [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 2449-6499. — 2024 — vol. 14 no. 2, s. 139-156. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 154-155, Abstr. — Publikacja dostępna online od: 2024-03-19. — M. Piekarski - dod. afiliacja: National Synchrotron Radiation Center SOLARIS, Jagiellonian University