Szczegóły publikacji

Opis bibliograficzny

Computation of topological entropy of finite representations of maps / Zbigniew GALIAS // W: ICECS 2018 [Dokument elektroniczny] : 25th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems : December 9-12, 2018, Bordeaux, France : proceedings. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Piscataway : IEEE], [2018]. — e-ISBN: 978-1-5386-9562-3. — S. 533–536. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 536, Abstr.

Autor

Słowa kluczowe

topological entropyHenon map

Dane bibliometryczne

ID BaDAP120167
Data dodania do BaDAP2019-02-13
Tekst źródłowyURL
DOI10.1109/ICECS.2018.8617973
Rok publikacji2018
Typ publikacjimateriały konferencyjne (aut.)
Otwarty dostęptak
WydawcaInstitute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
KonferencjaIEEE International Conference on Electronics, Circuits, and Systems 2018

Abstract

Efficient methods to compute values of topological entropy of finite representations of maps are presented. Computational methods are illustrated using the Helton map as an example. Accurate finite representations of the Henon map are constructed and values of the topological entropy of these representations are calculated. Relations between the topological entropy of the Helton map and values of topological entropy of its finite representations are discussed.

Publikacje, które mogą Cię zainteresować

artykuł
#126524Data dodania: 13.1.2020
On topological entropy of finite representations of the Hénon map / Zbigniew GALIAS // International Journal of Bifurcation and Chaos ; ISSN 0218-1274. — 2019 — vol. 29 no. 13, s. 1950175-1–1950175-12. — Bibliogr. s. 1950175-11–1950175-12
fragment książki
#120096Data dodania: 13.2.2019
Modeling of memristors under sinusoidal excitations with various frequencies / Bartłomiej GARDA, Zbigniew GALIAS // W: ICECS 2018 [Dokument elektroniczny] : 25th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems : December 9-12, 2018, Bordeaux, France : proceedings. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Piscataway : IEEE], [2018]. — e-ISBN: 978-1-5386-9562-3. — S. 545–548. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 548, Abstr.