Bernasik Andrzej, prof. dr hab. inż.

WFiIS-kfms Katedra Fizyki Materii Skondensowanej

Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej

nauki fizyczne

100

Habilitacja

Spektrometria mas jonów wtórnych w badaniach morfologii cienkich warstw mieszanin polimerów

Wersja tytułu:

Secondary ion mass spectrometry: morphology studies of thin polymer blend films

Sygn.:

II 245149

Wydział:

AGH Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej

Data uchwały Rady Wydziału:

26.04.2010

Stopień naukowy:

dr hab. nauk fizycznych

Dyscyplina:

fizyka ciała stałego

Publikacja:

Słowa kluczowe:

spektrometria masowa jonów wtórnych; polimer; warstwa cienka; morfologia