Szczegóły publikacji
Opis bibliograficzny
Scanning gate microscopy simulations of the double slit electron interferometer / K. KOLASIŃSKI, B. SZAFRAN, M. P. NOWAK // W: 44th ”Jaszowiec” 2015 international school and conference on the Physics of semiconductors [Dokument elektroniczny] : Wisła, Poland, June 20th–25th, 2015. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — Warsaw : [s. n.], 2015. — S. [1]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: http://info.ifpan.edu.pl/Jaszowiec/J2015/abstracts/TuP7.pdf [2015-09-09]. — Bibliogr. s. [1]
Autorzy (3)
Dane bibliometryczne
| ID BaDAP | 91379 |
|---|---|
| Data dodania do BaDAP | 2015-09-09 |
| Rok publikacji | 2015 |
| Typ publikacji | materiały konferencyjne (aut.) |
| Otwarty dostęp |