Szczegóły publikacji
Opis bibliograficzny
Reflektor do pomiaru przemieszczeń i odkształceń — [Reflector for measuring displacements and deformations] / Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie ; wynalazca: OWERKO Tomasz, ORTYL Łukasz, KURAS Przemysław, KOCIERZ Rafał. — Int.Cl.: H01Q 15/00(2006.01). — Polska. — Opis zgłoszeniowy wzoru użytkowego ; PL122987U1 ; Opubl. 2015-04-07. — Zgłosz. nr W.122987 z dn. 2014-04-10 // Biuletyn Urzędu Patentowego. — 2015 — nr 9, s. 45
Autorzy (4)
Słowa kluczowe
Dane bibliometryczne
| ID BaDAP | 90076 |
|---|---|
| Data dodania do BaDAP | 2015-08-26 |
| Tekst źródłowy | URL |
| Rok publikacji | 2015 |
| Typ publikacji | zgłoszenie wzoru użytkowego |
| Otwarty dostęp |  |
| Czasopismo/seria | Biuletyn Urzędu Patentowego |
Streszczenie
Przedmiotem wzoru użytkowego jest reflektor do pomiaru przemieszczeń i odkształceń punktów obiektów inżynierskich, zawierający reflektor mikrofalowy w postaci trzech prostopadłych względem siebie metalowych ścian bocznych ostrosłupa foremnego o podstawie trójkąta równobocznego. W strefie wierzchołka reflektora mikrofalowego, w jego ściany boczne reflektor ma współosiowo wbudowane gniazdo mocujące w kształcie ostrosłupa o podstawie trójkąta równobocznego, w którym poprzez gniazdo gwintowe wewnętrzne zamocowany jest reflektor elektrooptyczny. Z tyłu za reflektorem mikrofalowym w strefie za jego wierzchołkiem wystaje mocowanie tulejowe (5), wyposażone w dwa gniazda gwintowe: górne - dla trzpienia mocującego dodatkowy reflektor elektrooptyczny, i dolne - do mocowania reflektora na spodarkach geodezyjnych. Ponadto mocowanie tulejowe w jego tylnej części jest wyposażone w gniazdo gwintowe zewnętrzne, do połączenia reflektora z ramieniem zapewniającym jego ustawienie w dowolnym położeniu.
