Szczegóły publikacji

Opis bibliograficzny

Electron microscopy characterization of a multi-run friction stir processing cast AlSi9Mg aluminum alloy / Mateusz KOPYŚCIAŃSKI, Marek Stanisław Węglowski, Stanisław DYMEK // W: EM2014 : XV international conference on Electron Microscopy : 15–18 September, 2014, Kraków, Poland : programme and abstracts / AGH University of Science and Technology. International Centre of Electron Microscopy for Materials Science. Faculty of Metals Engineering and Industrial Computer Science, Polish Society for Microscopy, Committee of Materials Science of the Polish Academy of Sciences. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe Akapit, 2014. — Opis częśc. wg okł. — ISBN: 978-83-63663-48-3. — S. 164–165. — Bibliogr. s. 165

Autorzy (3)

Dane bibliometryczne

ID BaDAP83939
Data dodania do BaDAP2014-09-20
Rok publikacji2014
Typ publikacjimateriały konferencyjne (aut.)
Otwarty dostęptak
KonferencjaXV International conference on Electron microscopy

Publikacje, które mogą Cię zainteresować

fragment książki
#83881Data dodania: 20.9.2014
Electron microscopy characterization of friction stir welded 5083-H111 and 7075-T651 aluminum alloys / Izabela KALEMBA, Stanisław DYMEK, Mateusz KOPYŚCIAŃSKI // W: EM2014 : XV international conference on Electron Microscopy : 15–18 September, 2014, Kraków, Poland : programme and abstracts / AGH University of Science and Technology. International Centre of Electron Microscopy for Materials Science. Faculty of Metals Engineering and Industrial Computer Science, Polish Society for Microscopy, Committee of Materials Science of the Polish Academy of Sciences. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe Akapit, 2014. — Opis częśc. wg okł. — ISBN: 978-83-63663-48-3. — S. 100–101. — Bibliogr. s. 101
fragment książki
#136372Data dodania: 5.10.2021
EBSD characterization of a multi-run Friction Stir Processing cast AlSi9Mg aluminum alloy / Mateusz KOPYŚCIAŃSKI, Stanisław Dymek, Marek Stanisław Węglowski, Mirosław WRÓBEL // W: EM'2020 [Dokument elektroniczny] : XVII international conference on Electron Microscopy : November 30th - December 2nd 2020, Katowice, Poland : book of abstracts / Silesian University of Technology, Institute of Metallurgy and Materials Science. Polish Academy of Sciences, PTMi. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Poland : Silesian University of Technology], [2020]. — 1 dysk optyczny. — S. 99. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM