Szczegóły publikacji
Opis bibliograficzny
Characterization of two-terminal quantum ring conductance sensitivity to potential perturbation in the scanning gate microscopy / T. CHWIEJ, B. SZAFRAN // W: 42nd international school & conference on the Physics of semiconductors “Jaszowiec 2013” [Dokument elektroniczny] : Wisła, Poland, June 22nd – 27th, 2013 / Polish Academy of Sciences. Institute of Physics, [etc.]. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — Warsaw : [s. n.], 2013. — S. 161. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: http://www.ifpan.edu.pl/Jaszowiec/J2013/files/bookletA4.pdf [2014-09-16]. — Bibliogr. s. 161
Autorzy (2)
Dane bibliometryczne
| ID BaDAP | 83878 |
|---|---|
| Data dodania do BaDAP | 2014-09-16 |
| Rok publikacji | 2013 |
| Typ publikacji | materiały konferencyjne (aut.) |
| Otwarty dostęp |  |
