Szczegóły publikacji
Opis bibliograficzny
Research quantitative X-ray fluorescence microanalysis of patterned thin films / Marek LANKOSZ, John R. Sieber, Joseph Pedulla // W: Proceedings of the 48th annual conference on Applications of X-ray analysis [Denver X-Ray Conference\u2122 ] [Dokument elektroniczny] : August 2–6, 1999, Steamboat Springs, Colorado, USA. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — Newtown Square : International Centre for Diffraction Data, [1999]. — 1 dysk optyczny. — (Advances in X-ray Analysis ; ISSN 1097-0002 ; vol. 43). — S. 497–503. — Bibliogr. s. 503, Abstr.
Autorzy (3)
- AGHLankosz Marek
- Sieber John R.
- Pedulla Josef
Dane bibliometryczne
| ID BaDAP | 8285 |
|---|---|
| Data dodania do BaDAP | 2002-03-20 |
| Rok publikacji | 1999 |
| Typ publikacji | materiały konferencyjne (aut.) |
| Otwarty dostęp | |
| Czasopismo/seria | Advances in X-ray Analysis |