Szczegóły publikacji

Opis bibliograficzny

Research quantitative X-ray fluorescence microanalysis of patterned thin films / Marek LANKOSZ, John R. Sieber, Joseph Pedulla // W: Proceedings of the 48th annual conference on Applications of X-ray analysis [Denver X-Ray Conference\u2122 ] [Dokument elektroniczny] : August 2–6, 1999, Steamboat Springs, Colorado, USA. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — Newtown Square : International Centre for Diffraction Data, [1999]. — 1 dysk optyczny. — (Advances in X-ray Analysis ; ISSN 1097-0002 ; vol. 43). — S. 497–503. — Bibliogr. s. 503, Abstr.

Autorzy (3)

Dane bibliometryczne

ID BaDAP8285
Data dodania do BaDAP2002-03-20
Rok publikacji1999
Typ publikacjimateriały konferencyjne (aut.)
Otwarty dostęptak
Czasopismo/seriaAdvances in X-ray Analysis

Publikacje, które mogą Cię zainteresować

fragment książki
#11979Data dodania: 26.2.2003
X-ray fluorescence microanalysis of biomedical and environmental samples / M. LANKOSZ, M. BORUCHOWSKA, J. OSTACHOWICZ, D. Adamek, B. Tomik // W: Advances in X-ray analysis : proceedings of the 50th annual conference on Applications of X-ray analysis [Denver X-ray conference] : 30 July – 3 August 2001 Steamboat Springs, Colorado, USA , Vol. 45 / [Dokument elektroniczny]. — Wersja dla Acrobat Reader. — Dane tekstowe. — [USA : s. n], [2001]. — [Ekran] 463–471. — Bibliogr. [ekran] 471, Abstr.
fragment książki
#8284Data dodania: 20.3.2002
Application of micro X-ray fluorescence spectrometry for localized area analysis of biological and environmental materials / John R. Sieber, Marek LANKOSZ, Magdalena BORUCHOWSKA // W: Proceedings of the 48th annual conference on Applications of X-ray analysis [Denver X-Ray Conference\u2122 ] [Dokument elektroniczny] : August 2–6, 1999, Steamboat Springs, Colorado, USA. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — Newtown Square : International Centre for Diffraction Data, [1999]. — 1 dysk optyczny. — (Advances in X-ray Analysis ; ISSN 1097-0002 ; vol. 43). — S. 540–546 ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 546, Abstr.