Szczegóły publikacji
Opis bibliograficzny
Different grain interaction models used for interpretation of lattice strain data collected using grazing incidence X-ray diffraction / M. MARCISZKO, A. BACZMAŃSKI, M. WRÓBEL, W. Seiler, C. Braham, K. WIERZBANOWSKI // Materials Science Forum ; ISSN 0255-5476 . — Tytuł poprz.: Diffusion and Defect Monograph Series. — 2014 — vols. 768–769, s. 26–30. — Bibliogr. s. 30, Abstr. — M. Marciszko – dod. afiliacja: Ecole Nationale Supérieure d’Arts et Métiers. — ICRS 9 : 9th International Conference on Residual Stresses : 7–9 October 2012, Garmisch-Partenkirchen
Autorzy (6)
- AGHMarciszko-Wiąckowska Marianna
- AGHBaczmański Andrzej
- AGHWróbel Mirosław
- Seiler Wilfrid
- Braham Chedly
- AGHWierzbanowski Krzysztof
Słowa kluczowe
Dane bibliometryczne
| ID BaDAP | 76980 |
|---|---|
| Data dodania do BaDAP | 2013-10-31 |
| Tekst źródłowy | URL |
| DOI | 10.4028/www.scientific.net/MSF.768-769.26 |
| Rok publikacji | 2014 |
| Typ publikacji | referat w czasopiśmie |
| Otwarty dostęp |  |
| Czasopismo/seria | Materials Science Forum |
Abstract
Multireflection grazing incidence X-ray diffraction (MGIXD) was applied to measure residual stresses in thin surface layers. The influence of X-ray stress factors on the interpretation of MGIDX results for polycrystalline materials having respectively low (Ti) and high elastic anisotropy of crystallites (Ni alloy) was considered. It was found that the free-surface model gives the best agreement between experimental and theoretical lattice strains measured in samples having low and high elastic crystal anisotropy.
