Szczegóły publikacji
Opis bibliograficzny
Visual modeling of condition monitoring systems / Zygmunt M., Budyn M., Orkisz M., Ottewill J., Jaramillo V., Nowak A. // W: ETFA'2012 [Dokument elektroniczny] : 17th IEEE International conference on Emerging Technologies & Factory Automation : 17–21 September 2012, Kraków, Poland. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Piscataway : IEEE], [cop. 2012]. — Dysk Flash. — (IEEE International Conference on Emerging Technologies and Factory Automation – ETFA ; ISSN 1946-0740). — e-ISBN: 978-1-4673-4737-2. — S. [1–4]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM. — Afiliacja: ABB Corporate Research Center
Autorzy (6)
- Zygmunt Maciej
- Budyn Marek
- Orkisz Michał
- Ottewill James R.
- Jaramillo Victor H.
- Nowak Agnieszka
Dane bibliometryczne
| ID BaDAP | 76599 |
|---|---|
| Data dodania do BaDAP | 2013-10-08 |
| Rok publikacji | 2012 |
| Typ publikacji | materiały konferencyjne (aut.) |
| Otwarty dostęp | |
| Czasopismo/seria | IEEE International Conference on Emerging Technologies and Factory Automation – ETFA |