Szczegóły publikacji

Opis bibliograficzny

Progress in the X-ray diffraction of the residual macro-stresses determination related to surface layer gradients and anisotropy / S. J. SKRZYPEK, A. BACZMAŃSKI // W: 49th Annual Denver X-ray conference : 31 July–4 August 2000 : abstracts / International Centre for Diffraction Data. — [USA : s. n. : ICDD], [2000]. — S. 155

Autorzy (2)

Dane bibliometryczne

ID BaDAP7243
Data dodania do BaDAP2001-12-14
Rok publikacji2000
Typ publikacjimateriały konferencyjne (aut.)
Otwarty dostęptak

Publikacje, które mogą Cię zainteresować

fragment książki
#11979Data dodania: 26.2.2003
X-ray fluorescence microanalysis of biomedical and environmental samples / M. LANKOSZ, M. BORUCHOWSKA, J. OSTACHOWICZ, D. Adamek, B. Tomik // W: Advances in X-ray analysis : proceedings of the 50th annual conference on Applications of X-ray analysis [Denver X-ray conference] : 30 July – 3 August 2001 Steamboat Springs, Colorado, USA , Vol. 45 / [Dokument elektroniczny]. — Wersja dla Acrobat Reader. — Dane tekstowe. — [USA : s. n], [2001]. — [Ekran] 463–471. — Bibliogr. [ekran] 471, Abstr.
SzczegółyLink
fragment książki
#61381Data dodania: 12.10.2011
Quantitative characterization of stratified materials by confocal 3D micro-beam X-ray fluorescence spectroscopy : Monte Carlo simulation vs. fundamental parameters model / Mateusz CZYŻYCKI, Dariusz WĘGRZYNEK, Paweł WRÓBEL, Marek LANKOSZ // W: Denver X-ray conference : 60th annual conference on Applications of X-ray analysis : 1–5 August 2011 Colorado Springs, Colorado, U.S.A. : book of abstracts. — [Denver : s. n.], [2011]. — S. 105
SzczegółyLink