Szczegóły publikacji
Opis bibliograficzny
RBS, XRR and optical reflectivity measurements of ${Ti-TiO_{2}}$ thin films deposited by magnetron sputtering / K. DROGOWSKA, Z. TARNAWSKI, A. BRUDNIK, E. KUSIOR, M. SOKOŁOWSKI, K. ZAKRZEWSKA, A. Reszka, N.-T. H. Kim-Ngan, A. G. Balogh // Materials Research Bulletin ; ISSN 0025-5408. — 2012 — vol. 47 iss. 2, s. 296–301. — Bibliogr. s. 301, Abstr.
Autorzy (9)
- AGHDrogowska Karolina
- AGHTarnawski Zbigniew
- AGHBrudnik Andrzej
- AGHKusior Edward
- AGHSokołowski Mariusz
- AGHZakrzewska Katarzyna
- Reszka Anna
- Kim-Ngan Nhu-Tarnawska Hoa
- Balogh A. G.
Słowa kluczowe
Dane bibliometryczne
| ID BaDAP | 64863 |
|---|---|
| Data dodania do BaDAP | 2012-03-21 |
| Tekst źródłowy | URL |
| DOI | 10.1016/j.materresbull.2011.11.026 |
| Rok publikacji | 2012 |
| Typ publikacji | artykuł w czasopiśmie |
| Otwarty dostęp | |
| Czasopismo/seria | Materials Research Bulletin |