Szczegóły publikacji

Opis bibliograficzny

RBS, XRR and optical reflectivity measurements of ${Ti-TiO_{2}}$ thin films deposited by magnetron sputtering / K. DROGOWSKA, Z. TARNAWSKI, A. BRUDNIK, E. KUSIOR, M. SOKOŁOWSKI, K. ZAKRZEWSKA, A. Reszka, N.-T. H. Kim-Ngan, A. G. Balogh // Materials Research Bulletin ; ISSN 0025-5408. — 2012 — vol. 47 iss. 2, s. 296–301. — Bibliogr. s. 301, Abstr.

Autorzy (9)

Słowa kluczowe

multi-layerssputteringoptical propertiesX-ray diffractioncrystal structure

Dane bibliometryczne

ID BaDAP64863
Data dodania do BaDAP2012-03-21
Tekst źródłowyURL
DOI10.1016/j.materresbull.2011.11.026
Rok publikacji2012
Typ publikacjiartykuł w czasopiśmie
Otwarty dostęptak
Czasopismo/seriaMaterials Research Bulletin

Publikacje, które mogą Cię zainteresować

artykuł
#144949Data dodania: 18.2.2023
Surface and interface properties of $TiO_{2}/CuO$ thin film bilayers deposited by rf reactive magnetron sputtering / Joanna BANAŚ-GAC, Marta RADECKA, Adam CZAPLA, Edward KUSIOR, Katarzyna ZAKRZEWSKA // Applied Surface Science ; ISSN 0169-4332. — Tytuł poprz.: Applications of Surface Science. — 2023 — vol. 616 art. no. 156394, s. 1–17. — Bibliogr. s. 16–17, Abstr. — Publikacja dostępna online od: 2023-01-11
artykuł
#18826Data dodania: 8.1.2005
Structural, electrical and optical properties of ${TiO_{2}-WO_{3}}$ polycrystalline ceramics / S. KOMORNICKI, M. RADECKA, P. SOBAŚ // Materials Research Bulletin ; ISSN 0025-5408. — 2004 — vol. 39 iss. 13, s. 2007–2017. — Bibliogr. s. 2016–2017, Abstr.