Szczegóły publikacji

Opis bibliograficzny

Monitorowanie pól temperatury modułów scalonych — [Integrated circuits temperature profiles monitoring] / Piotr BRATEK, Andrzej KOS // W: ELTE'2000 : technologia elektronowa : VII konferencja naukowa : Polanica Zdrój, 18–22.09.2000 : materiały konferencyjne, T. 1. — Wrocław : Instytut Techniki Mikrosystemów Politechniki Wrocławskiej, 2000. — S. 490–493. — Bibliogr. s. 493

Autorzy (2)

Dane bibliometryczne

ID BaDAP6190
Data dodania do BaDAP2001-09-13
Rok publikacji2000
Typ publikacjimateriały konferencyjne (aut.)
Otwarty dostęptak

Publikacje, które mogą Cię zainteresować

fragment książki
#6426Data dodania: 4.10.2001
Cienkowarstwowe cyfrowe detektory rentgentowskie — [Digital thin-film Roentgen detectors] / Andrzej KOŁODZIEJ, Paweł KREWNIAK, Lech Dobrzański, Ryszard TADEUSIEWICZ // W: ELTE'2000 : technologia elektronowa : VII konferencja naukowa : Polanica Zdrój, 18–22.09.2000 : materiały konferencyjne, T. 1. — Wrocław : Instytut Techniki Mikrosystemów Politechniki Wrocławskiej, 2000. — S. 414–417. — Bibliogr. s. 417
SzczegółyLink
fragment książki
#7613Data dodania: 22.1.2002
Trójwarstwowe filtry optyczne dielektryk-metal-dielektryk : projektowanie i realizacja — [Three-layer optical filters dielectric-metal-dielectric : preparation and realization] / Mariusz SOKOŁOWSKI, Mieczysław JACHIMOWSKI // W: ELTE'2000 : technologia elektronowa : VII konferencja naukowa : Polanica Zdrój, 18–22.09.2000 : materiały konferencyjne, T. 1. — Wrocław : Instytut Techniki Mikrosystemów Politechniki Wrocławskiej, 2000. — S. 327–330. — Bibliogr. s. 330
SzczegółyLink