Szczegóły publikacji

Opis bibliograficzny

System do testowania specjalizowanych układów scalonych do odczytu detektorów paskowych — [System for testing the application specific integrated circuits for silicon strip detectors readout] / Krzysztof KASIŃSKI // W: SECON 2011 [Dokument elektroniczny] : XXX konferencja elektroniki i telekomunikacji studentów i młodych pracowników nauki. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Polska : s. n.], [2011]. — 1 dysk optyczny. — S. [1–9]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. [9]

Autor

Dane bibliometryczne

ID BaDAP60323
Data dodania do BaDAP2011-07-26
Rok publikacji2011
Typ publikacjimateriały konferencyjne (aut.)
Otwarty dostęptak

Publikacje, które mogą Cię zainteresować

fragment książki
#60225Data dodania: 19.7.2011
Optymalizacja kształtowania impulsu i szumów toru elektroniki odczytu front-end dla detektorów krzemowych — [Pulse shaping and noise optimization of front-end electronics for silicon detectors readout] / Rafał KŁECZEK, Piotr OTFINOWSKI // W: SECON 2011 [Dokument elektroniczny] : XXX konferencja elektroniki i telekomunikacji studentów i młodych pracowników nauki. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Polska : s. n.], [2011]. — 1 dysk optyczny. — S. [1–8]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. [8]
SzczegółyLink
artykuł
#61056Data dodania: 30.9.2011
System do testowania specjalizowanych układów scalonych do odczytu detektorów paskowych — Test system for the silicon strip detector readout application-specific integrated circuits / Krzysztof KASIŃSKI // PAR Pomiary Automatyka Robotyka ; ISSN 1427-9126. — 2011 — R. 15 nr 7–8, s. 70–74. — Bibliogr. s. 74, Streszcz., Abstr.
SzczegółyLink