Szczegóły publikacji

Opis bibliograficzny

Przewodnictwo oraz własności tribologiczne i termiczne piezorezystancyjnej warstwy ślizgowej — [Electric conductivity thermal and tribological properties piezoresistance sliding layer] / Tadeusz HABDANK-WOJEWÓDZKI, Marcin KOT, Wiesław RAKOWSKI, Sławomir ZIMOWSKI // W: COE 2000 : Czujniki Optoelektroniczne i Elektroniczne : VI konferencja naukowa : Gliwice, 13–16 czerwca 2000. T. 2, Prezentacje plakatowe / Polska Akademia Nauk. Oddział w Katowicach. — Katowice : KM Oddziału PAN, 2000. — (Prace Komisji Metrologii Oddziału PAN w Katowicach) ; (Seria: Konferencje ; nr 2). — ISBN: 83-913552-1-7. — S. 130–137. — Bibliogr. s. 137, Streszcz., Summ.

Autorzy (4)

Dane bibliometryczne

ID BaDAP5976
Data dodania do BaDAP2001-07-24
Rok publikacji2000
Typ publikacjimateriały konferencyjne (aut.)
Otwarty dostęptak
Czasopisma/seriePrace Naukowe Głównego Instytutu Górnictwa, Prace Komisji Metrologii Oddziału PAN w Katowicach, Seria: Konferencje

Publikacje, które mogą Cię zainteresować

fragment książki
#8667Data dodania: 27.3.2002
Funkcje korelacji temperatury, dynamicznej składowej normalnej siły nacisku i rezystancji czujnika tarcia przy konstrukcji milisystemów — [Correlation function temperature and dynamical normal force and rezistivity of wear sensor for construction milisystems] / Tadeusz HABDANK/=WOJEWÓDZKI // W: COE 2000 : Czujniki Optoelektroniczne i Elektroniczne : VI konferencja naukowa : Gliwice, 13–16 czerwca 2000. T. 2, Prezentacje plakatowe / Polska Akademia Nauk. Oddział w Katowicach. — Katowice : KM Oddziału PAN, 2000. — (Prace Komisji Metrologii Oddziału PAN w Katowicach) ; (Seria: Konferencje ; nr 2). — ISBN: 83-913552-1-7. — S. 86–90. — Bibliogr. s. 90
fragment książki
#6196Data dodania: 13.9.2001
Optoelektroniczna bramka logiczna NAND — [Optoelectronic logical gate NAND–type] / Zbigniew Porada, Elżbieta SCHABOWSKA-OSIOWSKA // W: COE 2000 : Czujniki Optoelektroniczne i Elektroniczne : VI konferencja naukowa : Gliwice, 13–16 czerwca 2000. T. 2, Prezentacje plakatowe / Polska Akademia Nauk. Oddział w Katowicach. — Katowice : KM Oddziału PAN, 2000. — (Prace Komisji Metrologii Oddziału PAN w Katowicach) ; (Seria: Konferencje ; nr 2). — ISBN: 83-913552-1-7. — S. 389–393. — Bibliogr. s. 393