Szczegóły publikacji

Opis bibliograficzny

VIPIC IC – design and test aspects of the 3D pixel chip / G. W. Deptuch, M. Trimpl, R. Yarema, D. P. Siddons, G. Carini, P. GRYBOŚ, R. SZCZYGIEŁ, M. KACHEL, P. KMON, P. MAJ // W: 2010 IEEE nuclear science symposium ; Medical imaging conference ; 17th room temperature semiconductor detector workshop [Dokument elektroniczny] : October 30, 2010 – November 6, 2010, Knoxville, Tennessee / IEEE, Nuclear Plasma Sciences Society, Massachusetts Institute of Technology. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [USA] : IEEE, cop. 2010. — 1 dysk optyczny. — ISSN 1082-3654. — e-ISBN: 978-1-4244-9104-9. — s. 1540–1543. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 1543, Abstr. — G. Deptuch – afiliacja: Fermi National Accelerator Laboratory, USA

Autorzy (10)

Dane bibliometryczne

ID BaDAP59645
Data dodania do BaDAP2011-06-10
Rok publikacji2010
Typ publikacjimateriały konferencyjne (aut.)
Otwarty dostęptak

Publikacje, które mogą Cię zainteresować

fragment książki
#59646Data dodania: 10.6.2011
FPDR90 a low noise, fast pixel readout chip in 90 nm CMOS / R. SZCZYGIEŁ, P. GRYBOŚ, P. MAJ // W: 2010 IEEE nuclear science symposium ; Medical imaging conference ; 17th room temperature semiconductor detector workshop [Dokument elektroniczny] : October 30, 2010 – November 6, 2010, Knoxville, Tennessee / IEEE, Nuclear Plasma Sciences Society, Massachusetts Institute of Technology. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [USA] : IEEE, cop. 2010. — 1 dysk optyczny. — ISSN 1082-3654. — e-ISBN: 978-1-4244-9104-9. — S. 1674–1677. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 1677, Abstr.
fragment książki
#59647Data dodania: 10.6.2011
Measurements and performance of a low noise 64-channel ASIC with CdTe strip detectors / Maciej KACHEL, Paweł GRYBOŚ, Robert SZCZYGIEŁ, Takeyoshi Taguchi // W: 2010 IEEE nuclear science symposium ; Medical imaging conference ; 17th room temperature semiconductor detector workshop [Dokument elektroniczny] : October 30, 2010 – November 6, 2010, Knoxville, Tennessee / IEEE, Nuclear Plasma Sciences Society, Massachusetts Institute of Technology. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [USA] : IEEE, cop. 2010. — 1 dysk optyczny. — ISSN 1082-3654. — e-ISBN: 978-1-4244-9104-9. — S. 1560–1564. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 1564, Abstr.