Szczegóły publikacji
Opis bibliograficzny
Application of Si-strip technology to X-ray diffraction instrumentation / E. Gerndt, W. DĄBROWSKI, L. Brügemann, J. Fink, K. ŚWIENTEK, P. WIĄCEK // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment ; ISSN 0168-9002. — 2010 — vol. 624 iss. 2 spec. iss., s. 350–359. — Bibliogr. s. 359. — Zawiera wybrane recenzowane materiały z 11th European Symposium on Semiconductor Detectors : June 7–11, 2010
Autorzy (6)
- Gerndt Ekkehard
- AGHDąbrowski Władysław
- Brügemann Lutz
- Fink J.
- AGHŚwientek Krzysztof
- AGHWiącek Piotr
Słowa kluczowe
Dane bibliometryczne
| ID BaDAP | 56013 |
|---|---|
| Data dodania do BaDAP | 2011-01-12 |
| Tekst źródłowy | URL |
| DOI | 10.1016/j.nima.2010.05.032 |
| Rok publikacji | 2010 |
| Typ publikacji | artykuł w czasopiśmie |
| Otwarty dostęp | |
| Czasopismo/seria | Nuclear Instruments & Methods in Physics Research, Section A, Accelerators Spectrometers, Detectors and Associated Equipment |