Szczegóły publikacji

Opis bibliograficzny

Application of optical microscopy and scanning electron microscopy to the study of stone weathering: a Cracow case study / Mariola MARSZAŁEK // International Journal of Architectural Heritage ; ISSN 1558-3058. — 2008 — vol. 2 no. 1, s. 83–92. — Bibliogr. s. 92

Autor

Słowa kluczowe

scanning electron microscopystone weatheringanthropogenic particlesoptical microscopyblack crust

Dane bibliometryczne

ID BaDAP54862
Data dodania do BaDAP2010-11-19
DOI10.1080/15583050701646695
Rok publikacji2008
Typ publikacjiartykuł w czasopiśmie
Otwarty dostęptak
Czasopismo/seriaInternational Journal of Architectural Heritage

Publikacje, które mogą Cię zainteresować

fragment książki
Application of scanning electron microscopy and optical microscopy to the study of stone weathering / MARSZAŁEK M. // W: European Geosciences Union : general assembly : Vienna, 02–07 April 2006 : scientific programme / EGU. — [Vienna : EGU], [2006]. — S. 133, XY0265. — Toż W: EGU European Geosciences Union [Dokument elektroniczny] : general assembly 2006 : Vienna, Austria, 02–07 April 2006 : [abstracts]. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe / EGU. — [S. l. : EGU, 2006]. — 1 dysk optyczny. — (Geophysical Research Abstracts ; ISSN 1029-7006 ; vol. 8). — S. [1]. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Tyt. przejęto z ekranu tytułowego
Szczegóły
fragment książki
Application of Scanning Electron Microscopy to analyze the technology of making prehistoric ornaments / Aldona GARBACZ-KLEMPKA, Małgorzata PEREK-NOWAK, Marcin PIĘKOŚ, Janusz KOZANA // W: EM'2020 [Dokument elektroniczny] : XVII international conference on Electron Microscopy : November 30th - December 2nd 2020, Katowice, Poland : book of abstracts / Silesian University of Technology, Institute of Metallurgy and Materials Science. Polish Academy of Sciences, PTMi. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Poland : Silesian University of Technology], [2020]. — 1 dysk optyczny. — S. 89. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM
Szczegóły