Szczegóły publikacji

Opis bibliograficzny

Podsumowanie badań symulacyjnych systemu korekcji dynamicznej metodą równoważności pomiaru dwoma torami — Dynamic error correction method by equivalence measurement with two channels – summary of simulation experiments / Jacek NALEPA // W: KM 2010 : V Kongres Metrologii : Łódź, 6–8 września 2010 : materiały / oprac. red. Krzysztof Gniotek, Zygmunt Kuśmierek. — Łódź : Politechnika Łódzka, 2010. — S. 96–97. — Bibliogr. s. 97, Streszcz., Summ. — Pełny tekst W: V Kongres Metrologii [Dokument elektroniczny] : Łódź, 6–8 września 2010 r. : materiały. — Wersja do Windows. — Dane Tekstowe / Politechnika Łódzka. — [Łódź : PŁ, 2010]. — 1 dysk optyczny. — S. [1–3]. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. [3], Streszcz., Abstr

Autor

Dane bibliometryczne

ID BaDAP53223
Data dodania do BaDAP2010-09-14
Rok publikacji2010
Typ publikacjimateriały konferencyjne (aut.)
Otwarty dostęptak

Publikacje, które mogą Cię zainteresować

artykuł
#53212Data dodania: 14.9.2010
Podsumowanie badań symulacyjnych systemu korekcji dynamicznej metodą równoważności pomiaru dwoma torami — Dynamic error correction by equivalence method of the measurement with two channels – summary of simulation experiments / Jacek NALEPA // Pomiary, Automatyka, Kontrola / Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich. Sekcja Metrologii, Polskie Stowarzyszenie Pomiarów Automatyki i Robotyki POLSPAR ; ISSN 0032-4140. — 2010 — vol. 56 nr 8, s. 887–889. — Bibliogr. s. 889, Streszcz., Abstr.
SzczegółyLink
fragment książki
#53241Data dodania: 16.9.2010
Lokalizacja pomiaru a problem nieinwazyjnego wyznaczania parametrów modelu Thevenina systemu elektroenergetycznego — Measurement location problem in noninvasive determination of Thevenin model of the power system / Dariusz BORKOWSKI, Andrzej WETULA, Andrzej BIEŃ // W: KM 2010 : V Kongres Metrologii : Łódź, 6–8 września 2010 : materiały / oprac. red. Krzysztof Gniotek, Zygmunt Kuśmierek. — Łódź : Politechnika Łódzka, 2010. — S. 138–141. — Bibliogr. s. 141, Streszcz., Abstr. — Pełny tekst W: V Kongres Metrologii [Dokument elektroniczny] : Łódź, 6–8 września 2010 r. : materiały. — Wersja do Windows. — Dane Tekstowe / Politechnika Łódzka. — [Łódź : PŁ, 2010]. — 1 dysk optyczny. — S. [1–6]. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. [6], Streszcz., Abstr.
SzczegółyLink