Szczegóły publikacji

Opis bibliograficzny

Computationally efficient algorithm for the estimation of the intimamedia thickness of the common carotid artery / Paweł TURCZA, Tomasz P. ZIELIŃSKI, Aleksander Kwater, Tomasz Grodzicki // Procedia Computer Science [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1877-0509. — 2010 — vol. 1 iss. 1, s. 465–474. — Bibliogr. s. 474, Abstr. — W pliku PDF błędnie podany rok wydania – 2012. — ICCS 2010 : International Conference on Computational Science : [Amsterdam, May 31–June 2, 2010]

Autorzy (4)

AGHTurcza Paweł
AGHZieliński Tomasz
Kwater Aleksander
Grodzicki Tomasz

Słowa kluczowe

intima-media thickness non linear diffusion filtering stroke snake image segmentation myocardial infarction

Dane bibliometryczne

ID BaDAP	52786
Data dodania do BaDAP	2010-08-16
Tekst źródłowy	URL
DOI	10.1016/j.procs.2010.04.050
Rok publikacji	2010
Typ publikacji	referat w czasopiśmie
Otwarty dostęp
Czasopismo/seria	Procedia Computer Science

Publikacje, które mogą Cię zainteresować

fragment książki

#53053Data dodania: 31.8.2010

Computationally efficient algorithm for the estimation of the intima-media thickness of the common carotid artery / Paweł TURCZA, Tomasz P. ZIELIŃSKI, Aleksander Kwater, Tomasz Grodzicki // W: ICCS 2010 [Dokument elektroniczny] : proceedings of the 10th International Conference on Computational Science : Amsterdam, May 31 – June 2, 2010 / eds. Peter M. A. Sloot, G. Dick van Albada, Jack Dongarra. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — S. l. : Elsevier, [2010]. — 1 dysk optyczny. — Opis wg CD-ROMu. — S. [1–10]. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 10, Abstr.

Szczegóły

artykuł

#51904Data dodania: 20.5.2010

Automatic estimation of the intima-media thickness of the common carotid artery — Automatyczna estymacja grubości błony wewnętrznej i środkowej tętnicy szyjnej / Paweł TURCZA, Tomasz P. ZIELIŃSKI, Aimé Lay-Ekuakille // Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania (Warszawa) ; ISSN 0033-2089. — Tytuł poprz.: Przegląd Elektroniki. — 2010 — R. 51 nr 3, s. 109–113. — Bibliogr. s. 113, Streszcz., Summ.

Szczegóły