Szczegóły publikacji
Opis bibliograficzny
Metoda mikrotomografii komputerowej dla układu mikrowiązki promieniowania X w zastosowaniu do wyznaczania porowatości i powierzchni właściwej skał — [Porosity and specific surface area measurements of rock samples by means of the X-ray computed microtomography method] / Jakub Bielecki, Sebastian Bożek, Janusz Lekki, Zbigniew Stachura, Jadwiga JARZYNA, Wojciech M. Kwiatek. — Kraków : IFJ PAN, 2009. — 15 s. — ( Raport / Instytut Fizyki Jądrowej im. Henryka Niewodniczańskiego Polskiej Akademii Nauk ; nr 2034/AP ). — Bibliogr. s. 15, Streszcz., Abstr.
Autorzy (6)
- Bielecki Jakub
- Bożek Sebastian
- Lekki Janusz
- Stachura Zbigniew
- AGHJarzyna Jadwiga
- Kwiatek Wojciech M.
Dane bibliometryczne
| ID BaDAP | 50865 |
|---|---|
| Data dodania do BaDAP | 2010-03-08 |
| Rok publikacji | 2009 |
| Typ publikacji | raporty, sprawozdania, inne (całość) |
| Otwarty dostęp | |
| Czasopismo/seria | Raport — Instytut Fizyki Jądrowej im. Henryka Niewodniczańskiego |