Szczegóły publikacji

Opis bibliograficzny

I Sympozjum Modelowanie i pomiary w medycynie 19–23 kwietnia 1999 r. — I Symposium on Modelling and measurements in medicine / Janusz GAJDA // Pomiary, Automatyka, Kontrola / Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich. Sekcja Metrologii, Polskie Stowarzyszenie Pomiarów Automatyki i Robotyki POLSPAR ; ISSN 0032-4140. — 1999 — nr 7, s. 3–4

Autor

Dane bibliometryczne

ID BaDAP415
Data dodania do BaDAP2001-04-18
Rok publikacji1999
Typ publikacjiartykuł w czasopiśmie
Otwarty dostęptak
Czasopismo/seriaPomiary Automatyka Kontrola

Streszczenie

W dniach 19-23 kwietnia 1999 r. odbyło się w Krynicy Górskiej I Sympozjum nt. Modelowanie i Pomiary w Medycynie (MPM'99). Sympozjum zostało zorganizowane przez Zakład Metrologii Akademii Górniczo-Hutniczej we współpracy z Komitetem Biocybernetyki i Inżynierii Biomedycznej PAN oraz Redakcją Pomiary Automatyka Kontrola.

Publikacje, które mogą Cię zainteresować

artykuł
II [Drugie] Sympozjum Modelowanie i Pomiary w Medycynie : 8–12 maja 2000 r — II [Second] Symposium on Modelling and Measurements in Medicine / Janusz GAJDA // Pomiary, Automatyka, Kontrola / Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich. Sekcja Metrologii, Polskie Stowarzyszenie Pomiarów Automatyki i Robotyki POLSPAR ; ISSN 0032-4140. — 2000 — R. 46 nr 8, s. 3–4
Szczegóły
artykuł
Modelowanie i pomiary zaburzeń dolnopasmowych w sygnałach sieci elektroenergetycznej — Modelling and measurements of low-pass disturbances in power network signal / Andrzej BIEŃ, Michał SZYPER, Andrzej WETULA // Pomiary, Automatyka, Kontrola / Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich. Sekcja Metrologii, Polskie Stowarzyszenie Pomiarów Automatyki i Robotyki POLSPAR ; ISSN 0032-4140. — 2006 — [nr] 10bis wyd. spec. dodatkowe, s. 130–134. — Bibliogr. s. 134, Streszcz., Abstr. — MiSSP '2006 : XVI sympozjum Modelowanie i Symulacja Systemów Pomiarowych : Krynica, 17–21 września 2006 r. / pod red. Janusza Gajdy ; Organ Polskiego Stowarzyszenia POLSPAR, Organ Sekcji Metrologii SIMP. — Warszawa : Agenda Wydawnicza SIMP, 2006
Szczegóły