Szczegóły publikacji

Opis bibliograficzny

Microstructural characterisation of ${SiC}$ and ${TiC}$ coatings on OBCF / T. MOSKALEWICZ, F. Smeacetto, M. Salvo, A. R. Boccaccini // W: EM'2008 : XIII international conference on Electron Microscopy : Zakopane, Poland, 8–11 June 2008 : abstracts. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, cop. 2008. — ISBN: 978-83-60958-15-5. — S. 117

Autorzy (4)

Dane bibliometryczne

ID BaDAP39479
Data dodania do BaDAP2008-07-03
Rok publikacji2008
Typ publikacjimateriały konferencyjne (aut.)
Otwarty dostęptak

Publikacje, które mogą Cię zainteresować

fragment książki
#39477Data dodania: 3.7.2008
TEM and HRTEM characterisation of ${TiN}$ coatings damage during ball-on-disc test / Ł. Major, J. Morgiel, M. KOT, J. M. Lackner // W: EM'2008 : XIII international conference on Electron Microscopy : Zakopane, Poland, 8–11 June 2008 : abstracts. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, cop. 2008. — ISBN: 978-83-60958-15-5. — S. 107
SzczegółyLink
fragment książki
#39450Data dodania: 2.7.2008
Characterisation of phases in multilayered coatings on ${Ti}$-base alloys electron microscopy and spectroscopy methods / A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ, P. A. Buffat, H. J. Penkalla // W: EM'2008 : XIII international conference on Electron Microscopy : Zakopane, Poland, 8–11 June 2008 : abstracts. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, cop. 2008. — ISBN: 978-83-60958-15-5. — S. 47
SzczegółyLink